表面粗糙度測(cè)量方法
表面粗糙度測(cè)量方法
比較法
將表面粗糙度比較樣塊，根據(jù)視覺和觸覺與被測(cè)表面比較，判斷被測(cè)表面粗糙度相當(dāng)于那一數(shù)值，或測(cè)量其反射光強(qiáng)變化來評(píng)定表面粗糙度(見激光測(cè)長(zhǎng)技術(shù))。樣塊是一套具有平面或圓柱表面的金屬塊，表面經(jīng)磨、車、鏜、銑、刨等切削加工，電鑄或其他鑄造工藝等加工而具有不同的表面粗糙度。有時(shí)可直接從工件中選出樣品經(jīng)過測(cè)量并評(píng)定合格后作為樣塊。利用樣塊根據(jù)視覺和觸覺評(píng)定表面粗糙度的方法雖然簡(jiǎn)便，但會(huì)受到主觀因素影響，常不能得出正確的表面粗糙度數(shù)值。
觸針法
利用針尖曲率半徑為 2微米左右的金剛石觸針沿被測(cè)表面緩慢滑行，金剛石觸針的上下位移量由電學(xué)式長(zhǎng)度傳感器轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)放大、濾波、計(jì)算后由顯示儀表指示出表面粗糙度數(shù)值，也可用記錄器記錄被測(cè)截面輪廓曲線。一般將僅能顯示表面粗糙度數(shù)值的測(cè)量工具稱為表面粗糙度測(cè)量?jī)x，同時(shí)能記錄表面輪廓曲線的稱為表面粗糙度輪廓儀（簡(jiǎn)稱輪廓儀），這兩種測(cè)量工具都有電子計(jì)算電路或電子計(jì)算機(jī)，它能自動(dòng)計(jì)算出輪廓算術(shù)平均偏差Rα，微觀不平度十點(diǎn)高度RZ，輪廓*大高度Ry和其他多種評(píng)定參數(shù)，測(cè)量效率高，適用于測(cè)量Rα為0.025～6.3微米的表面粗糙度。
光切法
光線通過狹縫后形成的光帶投射到被測(cè)表面上，以它與被測(cè)表面的交線所形成的輪廓曲線來測(cè)量表面粗糙度。由光源射出的光經(jīng)聚光鏡、狹縫、物鏡1后，以45°的傾斜角將狹縫投影到被測(cè)表面，形成被測(cè)表面的截面輪廓圖形，然后通過物鏡 2將此圖形放大后投射到分劃板上。利用測(cè)微目鏡和讀數(shù)鼓輪，先讀出h值，計(jì)算后得到H 值。應(yīng)用此法的表面粗糙度測(cè)量工具稱為光切顯微鏡。它適用于測(cè)量RZ和Ry為0.8～100微米的表面粗糙度，需要人工取點(diǎn)，測(cè)量效率低。
干涉法
利用光波干涉原理 (見平晶、激光測(cè)長(zhǎng)技術(shù))將被測(cè)表面的形狀誤差以干涉條紋圖形顯示出來，并利用放大倍數(shù)高 （可達(dá)500倍）的顯微鏡將這些干涉條紋的微觀部分放大后進(jìn)行測(cè)量，以得出被測(cè)表面粗糙度。應(yīng)用此法的表面粗糙度測(cè)量工具稱為干涉顯微鏡。這種方法適用于測(cè)量Rz和Ry為 0.025～0.8微米的表面粗糙度。
版權(quán)聲明：工控網(wǎng)轉(zhuǎn)載作品均注明出處，本網(wǎng)未注明出處和轉(zhuǎn)載的，是出于傳遞更多信息之目的，并不意味 著贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性。如轉(zhuǎn)載作品侵犯作者署名權(quán)，或有其他諸如版權(quán)、肖像權(quán)、知識(shí)產(chǎn)權(quán)等方面的傷害，并非本網(wǎng)故意為之，在接到相關(guān)權(quán)利人通知后將立即加以更正。聯(lián)系電話：0571－87774297。
