半導(dǎo)體wafer晶圓顆粒缺陷表面檢查燈 黃綠光表面檢查燈 白光表面檢查燈
半導(dǎo)體wafer晶圓顆粒缺陷表面檢查燈是一款黃綠光表面檢查燈（或者是白光），人眼敏感的黃綠光照在工件表面折射出光路，使得操作員肉眼很容易識(shí)別出半導(dǎo)體（晶圓/晶片）表面的缺陷，提高工作效率。可精確檢查到1um以下的瑕疵缺陷，擁有有綠光和黃光2種顏色的復(fù)合光，光源強(qiáng)度可達(dá)40萬LX，比傳統(tǒng)的檢查燈，效用增強(qiáng)10倍！除了可以應(yīng)用在半導(dǎo)體晶圓晶片表面瑕疵檢查，還可以檢查例如：液晶玻璃、液晶屏幕、汽車玻璃、基材……表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵。
半導(dǎo)體wafer晶圓缺陷表面檢查燈
半導(dǎo)體wafer晶圓缺陷表面檢查燈參數(shù):
光 源：30W 高亮度進(jìn)口LED加定制的光學(xué)鏡片； LED平均壽命是30000小時(shí)
照度：距離40cm → 28萬lx；距離30cm → 40萬 lx
照射面積： 9-20cm直徑的光圈 在40cm的距離（通過調(diào)焦距調(diào)光）
調(diào)光方式： 無極調(diào)光：從0% ~ 100%；
消耗功率：30 W
電源：調(diào)光器（輸入110-240V,輸出12-24V,2A），可以24小時(shí)持續(xù)無間斷工作。
平行光強(qiáng)的穩(wěn)定性： > 90 ％
