Micromeritics? TRISTAR II3020 比表面積和孔結(jié)構(gòu)分析儀
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Micromeritics® TRISTAR II3020 比表面積和孔結(jié)構(gòu)分析儀
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名 稱：比表面積和孔結(jié)構(gòu)分析儀 (Specific surface area and pore structure analyzer)
型 號(hào)：TRISTAR II 3020
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儀器簡(jiǎn)介
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配備常壓氮?dú)鈿夥栈罨b置，全自動(dòng)三站式比表面積和孔隙度分析儀，可同時(shí)和獨(dú)立分析三個(gè)樣品，配備了液氮等溫夾，保證等溫夾套以下的溫度恒定。
可應(yīng)用在藥品、陶瓷、活性炭、碳黑、油漆和涂料、催化劑、推進(jìn)燃料、醫(yī)用植入體、化妝品、電子產(chǎn)品、碳納米管、燃料電池、航空領(lǐng)域隔熱層以及絕熱材料的比表面以及孔隙度的測(cè)定。
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主要技術(shù)指標(biāo)
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1 比表面測(cè)量范圍：氮?dú)馕?/span>0.01m2/g至無(wú)上限；
2 孔徑分析范圍：3.5埃-5000埃；
3 測(cè)量5點(diǎn)BET比表面儀僅需20分鐘；
4 重復(fù)性優(yōu)于1%；
5 真正的三站同事測(cè)量，每個(gè)分析站均有獨(dú)立的高精度壓力傳感器。
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樣品要求
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1 保證提供的樣品質(zhì)量滿足測(cè)試要求（比表面積×樣品質(zhì)量＞10m2）；
2 提供樣品脫氣溫度和脫氣時(shí)間；
3 樣品無(wú)毒無(wú)害；
4 送樣測(cè)試樣品請(qǐng)預(yù)先在至少110℃下烘干2h，冷卻后密封或在干燥器中存放。
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