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熱像儀在LED開(kāi)發(fā)中的應(yīng)用
發(fā)布者:szhchd  發(fā)布時(shí)間:2023-05-16 15:38:54

在LED的生產(chǎn)和使用中,LED的實(shí)際壽命與其工作溫度成反比,這主要?dú)w因于LED的光電轉(zhuǎn)換效率極差,只有大約15%-20%的電能轉(zhuǎn)化為光輸出,而其余的則轉(zhuǎn)化為熱能。因此,當(dāng)一個(gè)模塊在工作過(guò)程中使用大量大功率LED以獲得高亮度時(shí),這些極差的轉(zhuǎn)換效率會(huì)造成散熱方面的大問(wèn)題。

在產(chǎn)品散熱和質(zhì)量檢測(cè)方面,熱像儀發(fā)揮著巨大的作用,它不僅可以用于LED的研發(fā)過(guò)程,還可以用于產(chǎn)品質(zhì)量管理,所以找到一個(gè)好的和經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的熱像儀一般主要集中在LED模組驅(qū)動(dòng)電路(含電源)、光源半導(dǎo)體熱分布分析、光衰測(cè)試等方面。

1、LED模組驅(qū)動(dòng)電路

在LED產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)中,工程師需要設(shè)計(jì)驅(qū)動(dòng)電路的一部分,例如整流電路模塊。使用熱像儀,工程師可以快速輕松地找到電路上的溫度異常,便于完善電路設(shè)計(jì)。

2、LED光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱

使用熱像儀,工程師可以根據(jù)獲得的光源半導(dǎo)體芯片的紅外熱圖,分析芯片在運(yùn)行過(guò)程中的溫度和溫度分布。在此基礎(chǔ)上,可以達(dá)到提高LED產(chǎn)品壽命的目的;

3、光衰測(cè)試

LED產(chǎn)品的光衰減是傳輸過(guò)程中信號(hào)的減弱,現(xiàn)階段,全球各大LED制造商生產(chǎn)的LED產(chǎn)品都有不同程度的光衰減。大功率LED也存在光衰減問(wèn)題,光衰減與濕度直接相關(guān),濕度主要由產(chǎn)品、熒光粉和封裝技術(shù)決定。目前,市場(chǎng)上白光LED的光衰可能是邁向民用照明的最重要問(wèn)題之一;

熱像儀質(zhì)量管理

1、半導(dǎo)體照明:吹制燈泡的均勻性

熱像儀捕獲生產(chǎn)線上的玻璃吹制過(guò)程,校正參數(shù)并改進(jìn)夾合過(guò)程,可有效提高產(chǎn)品良率并降低成本。

2、LED檢測(cè)芯片封裝的溫度管理

在LED芯片封裝前檢測(cè)光果田麻工可以避免封裝后芯片溫度異常,降低廢品率。

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