觸摸屏 1786-RPFM
.功能與參數(shù)測試
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等.
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無
法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量,
否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內(nèi)部漏電,b.內(nèi)部開路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電
容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應能測出.
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關(guān)
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點.
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨
意短路.
五.故障現(xiàn)象的分布
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).
2.由上可知,當待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時,又沒有好板子,既
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
觸摸屏 1786-RPFM
1786-FS20 |
1786-FS200 |
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1786-RG6 |
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1786-RPFS |
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1786-XT |
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1790D-TN4V0 |
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1791DS-IB4XOW4 |
1791DS-IB8XOB8 |
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1791ES-ID2SSIR |
1794-ACN15 |
1794-ACNR15 |
1794-ACNR15XT |
1794-ADN |
1794-ADNK |
DEK-REL-G24/21 |
EMG22-REL/KSR-24/21-21 |
MDSTB2,5/16-G1-5,08 |
MINIMCR-SL-TC-UI |
PLC-OSC-24DC/24DC/2 |
MCR-SWS-I |
FLKMS-D50SUB/B |
FLKM50/32M/PLC |
FLKM50/32M/SI/PLC |
FLK-D37SUB/B |
FLSWITCHSF6TX/2FXST |
UM45-D25SUB/B/ZFKDS |
UM-16R-G24/21/PLC/F-SO3275 |
FLSWITCH5TX |
MCR-R-I-0-V-DC |
MCR-PS-24DC/10DC |
ES/LP-BW |
MCR-DAC8/U-10B/BUS |
MCR-SL-1CLP-I/I-00-4KV |
MCR-SL-PT100-U-DC-24 |
MSTB2,5/10-ST |
EMG10-REL/KSR-G24/1-LC |
EMG10-OE-24DC/48DC/100 |
SAC-4P-M12MS/5,0-PUR |
SAC-4P-M12MS/10,0-PUR |
UMK-SE11,25-1PROFIL |
SAC-4P-M12MS/3,0-PUR/M12FR-3L |
EMG45-RELS/IR1-W230 |
PLC-RSC-24DC/21-21AU |
PLC-RSC-230UC/21-21AU |
MINIPS-100-240AC/24DC/4 |
EMG22RELS/KE-G24 |
SAC-3P-M12MS-M8FS |
MCR-T-UI |
DEK-REL-24/1/1 |
FLSPBM12DO8M12-2A |
FLSPBM12DIO8/8M12 |
FLSPBM12DI16M12 |
FLCOMSERVERRS232 |
SAC-2P-M12MSB/2,0-910/M12FSB |
IBIL24DI16 |
IBIL24DI2 |
IBIL24DO16 |
IBIL24DO8 |
EMG10-OE-5DC/48DC/100 |
ST-OV3-24DC/60DC/3 |
MINIPS-100-240AC/5DC/3 |
CM50-PS-120-230AC/24DC/2.5/F |
MCR-SL-PT100-LP-I |
IBSST24BK-T |