變頻器1763-BA
.功能與參數(shù)測試
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等.
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無
法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量,
否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內部漏電,b.內部開路c.變質頻偏d.外圍相連電
容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應能測出.
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點.
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨
意短路.
五.故障現(xiàn)象的分布
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).
2.由上可知,當待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時,又沒有好板子,既
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
變頻器1763-BA
| 1763-BA |
| 1763-L16AWA |
| 1763-L16BBB |
| 1763-L16BWA |
| 1763-L16DWD |
| 1763-MM1 |
| 1763-NC01 |
| 1766-L32AWA |
| 1766-L32AWAA |
| 1766-L32BWA |
| 1766-L32BWAA |
| 1766-L32BXB |
| 1766-L32BXBA |
| 1766-MM1 |
| 1768-CNB |
| 1768-CNBR |
| 1768-EWEB |
| 1768-L43S |
| 1769-AENTR |
| 1769-AENTRK |
| 1769-ARM |
| 1769-ASCII |
| 1769-BA |
| 1769-BOOLEAN |
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| 1769-CLL1 |
| 1769-CLL3 |
| 1769-CRL1 |
| 1769-CRL3 |
| 1769-CRR1 |
| 1769-CRR3 |
| 1769-ECL |
| 1769-ECLK |
| 1769-ECR |
| 1769-ECRK |
| 1769-HSC |
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| 1769-IF4FXOF2F |
| 1769-IF4I |
| 1769-IF4IK |
| 1769-IF4K |
| 1769-IF4XOF2 |
| 1769-IF4XOF2K |
| 1769-IF8 |
| 1769-IF8K |
| 1769-IG16 |
| 1769-IM12 |
| 1769-IQ16 |
| 1769-IQ16F |
| 1769-IQ16K |
| 1769-IQ32 |
| 1769-IQ32K |
| 1769-IQ32T |
| 1769-IQ6XOW4 |
| 1769-IR6 |
| 1769-IR6K |
| 1769-IT6 |
| 1769-IT6K |
| 1769-L16ER-BB1B |
| 1769-L18ER-BB1B |
| 1769-L18ERM-BB1B |
| 1769-L18ERM-BB1BK |
隨著環(huán)境可持續(xù)發(fā)展受到廣泛關注，我們很高興有機會與霍尼韋爾這樣的全球領軍企業(yè)合作，共同開發(fā)這項以數(shù)據(jù)驅動的指數(shù)，使之成為跟蹤全球各地企業(yè)在減少碳足跡方面的情緒、舉措和意向的風向標。
未來十年，我們預計可持續(xù)發(fā)展不僅會得到政策上的更多支持，而且會得到全球領先企業(yè)的更大投入，彰顯可持續(xù)性實踐的重要性，并成為全球消費者、投資者和公司董事會的硬性要求。
| 3HAC020925-001 |
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