在C的粉塵沉積密度2倍(粉塵1)下，在不同RH下的波特，(a)波特量，(b)相角，在40，84°C下沉積密度為1X或3X的控制板和粉塵1沉積板在測試的相對濕度范圍內(nèi)的阻抗幅度趨勢基于三個樣品在25°C時的均結(jié)果。
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顯微硬度測試的常見問題
1、準(zhǔn)確性 – 儀器以線性方式讀取公認(rèn)硬度標(biāo)準(zhǔn)（經(jīng)過認(rèn)證的試塊）的能力，以及將該準(zhǔn)確性轉(zhuǎn)移到測試樣本上的能力。
2、重復(fù)性- 結(jié)果是否可以使用公認(rèn)的硬度標(biāo)準(zhǔn)重復(fù)。
3、相關(guān)性——兩臺經(jīng)過正確校準(zhǔn)的機(jī)器或兩個操作員能否得出相同或相似的結(jié)果（不要與使用同一臺機(jī)器和同一操作員的重復(fù)性相混淆。
主要由Ca和O組成，樹突與粉塵顆?；旌?，(b)中的枝晶的EDS120作表明，枝晶結(jié)構(gòu)由Pb和Sn的金屬氧化組成，(a)8,577X(b)41,555X摻有灰塵顆粒的Sn-Pb樹枝狀晶體的SEM像案例研究含Ni/Pb鉛精加工的焊料金屬遷移52顯示了幾乎跨越的遷移路徑的SEM像兩條線索。 灰塵是我們生活和工作的環(huán)境中普遍存在的組成部分，它可以沉積在印刷電路組件上，充當(dāng)離子污染源，印刷儀器維修中灰塵污染的兩個常見后果是阻抗損失(即表面絕緣電阻的損失)和走線與組件引線之間的電化學(xué)遷移，兩種故障機(jī)制都涉及污染。
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1、機(jī)器。
維氏顯微硬度測試儀通過使用自重產(chǎn)生力來進(jìn)行測量。這些輕負(fù)載裝置 (10-2,000 gf) 將自重直接堆疊在壓頭頂部。雖然這消除了放大誤差以及其他誤差，但這可能會導(dǎo)致重復(fù)性問題。在大多數(shù)情況下，顯微硬度計使用兩種速度施加載荷——“快”速度使壓頭靠近測試件，“慢”速度接觸工件并施加載荷。壓頭的“行程”通常用測量裝置設(shè)定。總而言之，一件樂器給人留下印象大約需要 30 秒。此時，在進(jìn)行深度測量或只是試圖在特定點上準(zhǔn)確放置壓痕時，壓頭與物鏡的對齊至關(guān)重要。如果這部分弄錯了，即使硬度值不受影響，但距樣品邊緣的距離也可能是錯誤的，終導(dǎo)致測量錯誤。
11]，在這項工作和其他工作中所使用的MFG環(huán)境使得銀的腐蝕速率約為銅的腐蝕速率的1/25(圖5和6)，在已知的與腐蝕相關(guān)的硬件故障的數(shù)據(jù)中心中，銀腐蝕的速度通常比銅腐蝕的速度快約四倍(表2)，換句話說。 有機(jī)硅增強(qiáng)電容器的失效時間與環(huán)氧增強(qiáng)電容器的失效時間，因此，這些重新安排的故障時間是將用于比較的電容器的實際故障時間，只要將組件(環(huán)氧樹脂或硅樹脂)固定到板上，在下面的表5.16中通過仿真獲得共振頻率和透射率*比較和測試含硅酮增強(qiáng)的PCB。
2、運營商。
顯微硬度測試很大程度上受操作者的能力和技能的影響。正確的聚焦是獲得準(zhǔn)確結(jié)果的關(guān)鍵因素。模糊圖像和結(jié)果很容易被誤讀或誤解。在許多情況下，操作員有時會急于進(jìn)行測試并取出零件。必須小心確保正確的結(jié)果。在許多情況下，機(jī)器的自動對焦可以幫助消除一些由乏味、費力和重復(fù)性任務(wù)帶來的感知錯誤。
手動記錄和轉(zhuǎn)換結(jié)果可能是操作員出錯的另一個原因。疲勞的眼睛很容易將 99.3 視為 9.93。 自動給出轉(zhuǎn)換和結(jié)果的數(shù)字顯微硬度測試儀可以幫助消除這個問題。此外，相機(jī)幾乎可以連接到任何顯微硬度測試儀上，以幫助找到印模末端。
軌跡的中心線由一組直線段描述，每個直線段沿其路徑與一個或多個三角形重疊，對于每個重疊，將直線段的重疊部分轉(zhuǎn)換為熱導(dǎo)體，然后將其轉(zhuǎn)換為與三角形邊緣對齊并連接到拐角節(jié)點的三個等效熱敏電阻的集合，三角形的初始2D網(wǎng)格的自動構(gòu)建以三步過程執(zhí)行。 本文主要從實踐的角度分析了高速PCB設(shè)計過程中的誤解和對策，高速PCB材料的介電常數(shù)到目前為止，就高速PCB設(shè)計而言，主要有三種設(shè)計技術(shù):噪聲和延遲PCB圖形設(shè)計技術(shù)，阻抗和傳播延遲時間控制技術(shù)以及以PCB阻抗為參數(shù)的評估技術(shù)。
3、環(huán)境問題。
由于顯微硬度測試中使用輕負(fù)載，振動可能會影響負(fù)載精度。壓頭或試樣的振動會導(dǎo)致壓頭更深地進(jìn)入零件，從而產(chǎn)生更柔軟的結(jié)果。顯微硬度計應(yīng)始終放置在專用、水平、堅固、獨立的桌子上。確保您的桌子沒有靠墻或相鄰的桌子。
顯微硬度計硬度計機(jī)器具有高倍光學(xué)鏡片。如果在測試儀附近進(jìn)行切割、研磨或拋光，鏡頭上可能會沾上污垢，從而導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確。
盡管儀器維修的復(fù)雜性不斷增加，但成本仍可以保持較低水，在1995年左右，這是開始使用高密度互連器PCB的時候，這些儀器維修具有較小的線條，焊盤，并具有多種優(yōu)點，例如減輕了重量并減小了尺寸，從那時起，舊的主板就過時了。 則可以通過找到每個單元每個組件用途的其他公司安全地丟棄它們，4.質(zhì)量保證-重新制造您的單元時，它會經(jīng)歷一個廣泛的過程，清潔整個裝置以清除所有污染物，并用新的部件更換所有磨損或損壞的組件，然后對該單元進(jìn)行測試。 該測試圖將比較測試條件，結(jié)構(gòu)中的通孔水，具有和不具有掩埋通孔以及堆疊與交錯通孔配置的堆疊通孔的差異，圖1對于理解為什么需要更高的測試溫度才能從微孔測試的可疑結(jié)果中辨別出可接受的值至關(guān)重要，在相同的測試面板上使用1700CTg材料生產(chǎn)的相同試樣。
每個NASA中心都有責(zé)任確保使用的PCB制造商或其主要承包商和系統(tǒng)開發(fā)人員使用的PCB制造商能夠滿足NPD8730.5中確定的低通用質(zhì)量控制要求，NASA質(zhì)量保證。每個NASA中心還必須確定如何將PCB主題專業(yè)知識應(yīng)用于供應(yīng)商風(fēng)險評估和緩解。IPC，NADCAP，DoD（請參閱MIL-PRF-31032）和航天局（ESA）均根據(jù)其自身的PCB標(biāo)準(zhǔn)或?qū)徍饲鍐卧u估供應(yīng)商的能力。這些組織保留已證明符合這些標(biāo)準(zhǔn)并符合低審核標(biāo)準(zhǔn)的供應(yīng)商清單。許多高可靠性系統(tǒng)開發(fā)人員將根據(jù)其符合以下技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的能力，來使PCB供應(yīng)商合格：部（參見MIL-PRF-31032）和航天局（ESA）各自操作過程，根據(jù)其自身的PCB標(biāo)準(zhǔn)或?qū)徍饲鍐卧u估供應(yīng)商的能力。
對于熱失配的材料，當(dāng)循環(huán)溫度變化增加時，失效時間通常會減少，熱設(shè)計的主要目的是以低的成本獲得足夠高的可靠性，6.6.2熱傳遞必須將組件中產(chǎn)生的熱量傳遞到周圍環(huán)境中，傳熱有三種基本模式:傳導(dǎo)，對流和輻射。 1116.4設(shè)計準(zhǔn)則本研究進(jìn)行的詳細(xì)分析揭示了PCB振動的幾個重要特征，在這項研究中獲得的一些結(jié)果可以用來設(shè)定一些設(shè)計規(guī)則，電子盒的設(shè)計基于保護(hù)內(nèi)部組件免受環(huán)境影響的能力，如果承受振動負(fù)荷，電子盒應(yīng)提供系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)完整性。 在整個測試期間，電阻值比粉塵沉積組更高，表不同類型粉塵的失效時間，在四組粉塵沉積測試板中，粉塵3組的均TTF低，為29小時，該組中的所有四個測試板均失敗，從測試室中取出失敗的樣品，并通過光學(xué)顯微鏡和SEM-EDS進(jìn)行檢查。 因為它保留了相同級別的功能，但需要的空間較小，后來在1990年代，計算機(jī)制造迅速成為開發(fā)PCB的常規(guī)方式，這也意味著儀器維修設(shè)計的復(fù)雜性大大增加，隨著技術(shù)的逐步發(fā)展，儀器維修變得更加，并為不同的用途和應(yīng)用開辟了更多的可能性。
某些組件（通常是IC）可能以相似的方式進(jìn)行標(biāo)記（例如C4558C實際上是雙運放），但這是完整的部件號-只是其他一些東西而使您感到困惑！其中一些，例如標(biāo)有C1003的實際上可能是uPC1003，因此，如果您在數(shù)據(jù)表中找到的內(nèi)容沒有意義，請嘗試其他可能性！除了非常昂貴的DATA半導(dǎo)體參考系列（甚至不問），它幾乎涵蓋了所有類型和口味的設(shè)備，還有各種日本半導(dǎo)體參考手冊，可通過MCMElectronics等公司獲得，價格約為20美元。其中一些文本可能是日語，而相關(guān)數(shù)據(jù)則是英語，因此，如果您想要這些設(shè)備的詳細(xì)或規(guī)格比交叉引用（例如NTE）所提供的更為詳細(xì)或，這些手冊將非常方便。有關(guān)晶體管名稱的更多信息MOSFET的常見標(biāo)記方案包括2位數(shù)字。
海能便攜式cod水質(zhì)測定儀維修規(guī)模大單位將是時間/公制，例如小時/故障。度量的倒數(shù)提供發(fā)生率，例如故障/小時。原因：該度量標(biāo)準(zhǔn)提供了一個認(rèn)知因素，可用于根據(jù)歷史情況確定集中趨勢數(shù)以及未來將發(fā)生的預(yù)期數(shù)。均時間的算術(shù)簡單性是建立度量標(biāo)準(zhǔn)并聆聽從其獲取的信息以獲得洞察力的原因。該算術(shù)提供即時，對事實進(jìn)行分類，以開始進(jìn)行持續(xù)改進(jìn)，而不是在尋找延遲完善時推遲指標(biāo)！在以下情況下：度量標(biāo)準(zhǔn)用作性能標(biāo)準(zhǔn)，并且可以預(yù)期與中心趨勢數(shù)之間的偏差，但是從長期來看，期望可以控制偏差以防止測量結(jié)果失真。哪里：度量標(biāo)準(zhǔn)從車間到管理層都用作“我們做得如何”的標(biāo)準(zhǔn)。機(jī)械零件的相互作用內(nèi)容：機(jī)械零件會遭受過載的相互作用和降級，強(qiáng)度惡化，磨損，腐蝕，制造過程中的工藝變化。 kjbaeedfwerfws
