柔性和剛性PCB變得更加普遍，因為它們的價格更便宜，電子設(shè)備的小型化繼續(xù)推動PCB制造技術(shù)的發(fā)展，以推動更，更緊湊的設(shè)計，無論您是企業(yè)還是個人，錢都是我們都希望節(jié)省的公共資源，對于PCB而言，不要以犧牲價格為代價來追求質(zhì)量。
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顯微硬度測試的常見問題
1、準確性 – 儀器以線性方式讀取公認硬度標準（經(jīng)過認證的試塊）的能力，以及將該準確性轉(zhuǎn)移到測試樣本上的能力。
2、重復性- 結(jié)果是否可以使用公認的硬度標準重復。
3、相關(guān)性——兩臺經(jīng)過正確校準的機器或兩個操作員能否得出相同或相似的結(jié)果（不要與使用同一臺機器和同一操作員的重復性相混淆。
這項研究提供了一種可重復的通用測試方法，可用于評估兩種故障機理的粉塵，基于本文的結(jié)果，可以開發(fā)一種評估粉塵對電子可靠性的影響的方法，以用于電子工業(yè)，推薦的可靠性評估方法如57所示，使用試驗設(shè)計確定并配制了標準試驗粉塵的成分。 另一方面，復雜的冷卻系統(tǒng)可能非常昂貴，根據(jù)不斷增加的成本和復雜性安排的一些冷卻方法是:-使用低功耗組件(CMOS)和設(shè)計方法，-高散熱組件的佳放置，-單個組件上的散熱片，-改善了基板的熱性能:金屬芯板。
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1、機器。
維氏顯微硬度測試儀通過使用自重產(chǎn)生力來進行測量。這些輕負載裝置 (10-2,000 gf) 將自重直接堆疊在壓頭頂部。雖然這消除了放大誤差以及其他誤差，但這可能會導致重復性問題。在大多數(shù)情況下，顯微硬度計使用兩種速度施加載荷——“快”速度使壓頭靠近測試件，“慢”速度接觸工件并施加載荷。壓頭的“行程”通常用測量裝置設(shè)定?？偠灾患菲鹘o人留下印象大約需要 30 秒。此時，在進行深度測量或只是試圖在特定點上準確放置壓痕時，壓頭與物鏡的對齊至關(guān)重要。如果這部分弄錯了，即使硬度值不受影響，但距樣品邊緣的距離也可能是錯誤的，終導致測量錯誤。
當PCB的寬度和長度都改變時，相對于PCB幾何形狀的損傷變化根據(jù)仿真結(jié)果，得出的結(jié)論如下:1.當L=恒定時，LW會增加組件的損傷，2.對于L為常數(shù)且小的情況(L=120mm情況)，損壞值高，1433.當W=恒定增加時。 當印刷儀器維修在振動過程中發(fā)生偏轉(zhuǎn)時，產(chǎn)生的應(yīng)力的大小取決于儀器維修的撓曲形狀，這種撓曲很大程度上取決于約束儀器維修的邊界條件，然而，可以得出結(jié)論，環(huán)氧玻璃儀器維修可以設(shè)計成抗疲勞的，實際上，很少觀察到板本身的結(jié)構(gòu)故障[2]。
2、運營商。
顯微硬度測試很大程度上受操作者的能力和技能的影響。正確的聚焦是獲得準確結(jié)果的關(guān)鍵因素。模糊圖像和結(jié)果很容易被誤讀或誤解。在許多情況下，操作員有時會急于進行測試并取出零件。必須小心確保正確的結(jié)果。在許多情況下，機器的自動對焦可以幫助消除一些由乏味、費力和重復性任務(wù)帶來的感知錯誤。
手動記錄和轉(zhuǎn)換結(jié)果可能是操作員出錯的另一個原因。疲勞的眼睛很容易將 99.3 視為 9.93。 自動給出轉(zhuǎn)換和結(jié)果的數(shù)字顯微硬度測試儀可以幫助消除這個問題。此外，相機幾乎可以連接到任何顯微硬度測試儀上，以幫助找到印模末端。
以及相對濕度的變化，這些鹽中的一些鹽，例如硫酸氫銨或硫酸銨，可以在空氣中的吸濕性粉塵中發(fā)現(xiàn)高濃度，在30%至的濕度范圍內(nèi)，硫化鈉對電阻變化的敏感性高，盡管通常不會在空氣中的吸濕性粉塵中發(fā)現(xiàn)，它提供了一種可控的技術(shù)來模擬SIR的損失。 則授權(quán)維修，不允許進行的返工或維修需要的書面授權(quán)，并且必須包括經(jīng)授權(quán)維修的單板數(shù)量，13.文檔和記錄保留:將按照航天標準將完整PCB隨附的所有書面文件保留和存儲7年，PCB供應(yīng)商負責存儲和維護未運送到的任何及所有文檔和樣品(包括顯微切片)。
3、環(huán)境問題。
由于顯微硬度測試中使用輕負載，振動可能會影響負載精度。壓頭或試樣的振動會導致壓頭更深地進入零件，從而產(chǎn)生更柔軟的結(jié)果。顯微硬度計應(yīng)始終放置在專用、水平、堅固、獨立的桌子上。確保您的桌子沒有靠墻或相鄰的桌子。
顯微硬度計硬度計機器具有高倍光學鏡片。如果在測試儀附近進行切割、研磨或拋光，鏡頭上可能會沾上污垢，從而導致結(jié)果不準確。
A1超細試驗粉塵(1-20um)ISO12103-1，A2細試驗粉塵(1-120um)ISO12103-1，A3中度試驗粉塵(1-120um)ISO12103-1，A4粗試驗粉塵(1-200um)ASHREA72%23%5%試驗粉塵#1(ISOA2)ASHREA93.。 即使所有電子產(chǎn)品都經(jīng)過設(shè)計和專業(yè)制造，也都需要進行測試，因為它們?nèi)菀壮霈F(xiàn)故障和問題，印刷儀器維修由需要正確運行的各種電氣組件組成，PCB測試對于測試每個組件是否正常至關(guān)重要，在整個設(shè)計和制造過程中進行質(zhì)量控制和質(zhì)量保證至關(guān)重要。 另一項基于環(huán)境故障率的研究表明，振動，潮濕和多塵的環(huán)境是造成環(huán)境故障的主要原因[13]，這些故障的分布如圖12所示，圖12.故障模式分布[13]91.4電子組件的振動眾所周知，振動是電子系統(tǒng)中重要的負載條件之一。
這些對于DC電壓將是令人滿意的，但是獲得任何種類的高頻響應(yīng)的補償可能很棘手。但是，這將滿足大多數(shù)消費電子需求。不太棒的電流探頭。在診斷電視并監(jiān)視偏轉(zhuǎn)問題時，可能需要一個電流探針來查看軛和反激中的電流波形。如果沒有高頻高壓探頭，則無法查看高壓信號。如果您有用于示波器的電流探頭，則可以用來監(jiān)視各種電流波形。我已經(jīng)使用Tektronix電流探頭在電視上查看了軛電流。水偏轉(zhuǎn)電流波形的再現(xiàn)非常好。然而，由于該探針的低頻截止，垂直線遭受嚴重的失真。您可以使用鍵盤和顯示器電纜上使用的那種分裂鐵氧體磁芯（好是可咬合在一起的）來構(gòu)建不太理想（但相當實用）的電流探頭。以下將起作用：將七匝絕緣線纏繞在芯線的一半周圍。
存在一種感興趣的頻率范圍內(nèi)的模式，該模式與前蓋的振動有關(guān)，這非常重要，因為前蓋上有一個連接器，因此，在組件的振動分析過程中，必須注意前蓋的振動，3.1.3帶有頂蓋和頂蓋的電子盒子的有限元振動分析在ANSYS中對帶有頂蓋和頂蓋的盒子的有限元振動進行分析。 并且輻射和反射都可以也減少了，使高速電路中組件之間的引腳盡可能短在PCB高速信號電路的設(shè)計和布線過程中，工程師需要使高速電路中各個組件之間的引腳盡可能短，因為引線越長，分布電感和分布電容器都越大，這將導致高速電路中的反射和振蕩。 但是，暴露于高溫會使它們變脆，因此更容易斷裂，在圖4a中還可以觀察到，這個暗黑的燒焦區(qū)域從PTH的外壁延伸到銅跡線(左上角)，損壞的路徑和高溫的跡象表明，故障是由于導電絲的形成(CFF)所致，它在PTH和接地層的銅走線之間形成了一條導電路徑。 圖5.自動損壞檢測系統(tǒng)組件(HP33120A任意波形發(fā)生器根據(jù)故障時間得出了PCB2和PCB3上電容器的類似疲勞行為，另外，PCB1上電容器的疲勞壽命總是小于PCB2和PCB3上的電容器的疲勞壽命，在電容器的疲勞壽命的計算中。
并考慮布局，包裝等。[OConner88]機械故障機械故障通常是導致許多系統(tǒng)故障的原因。例如考慮汽車線束。線束是電線的集合，這些電線在整個汽車中布線，以將所有電線保持在一起。線束損壞是許多汽車電氣系統(tǒng)故障的常見原因。絲的損壞可能是由于通體螺絲刺穿，相鄰組件卡住以及由于丟失的固定夾而引起的擦傷，僅舉幾例[Derr87]。電子系統(tǒng)必須設(shè)計成能夠承受機械沖擊，振動，潮濕和其他環(huán)境壓力。由于焊料的疲勞性能較差，因此應(yīng)給重的部件更多的支撐，而不是僅僅依靠焊料連接。此外，電纜需要小心支撐和綁緊，以免因運動部件而磨損。連接器故障通常是電氣系統(tǒng)故障的常見原因，應(yīng)注意其放置和安裝[O.Conner88]。電子設(shè)備的可靠性預測有多種可靠性預測建模技術(shù)。
潤之rise粒度分析檢測儀故障維修修不好不收費這些散熱解決方案可以在內(nèi)部開發(fā)，也可以與供應(yīng)商共同開發(fā)。與會議和文獻中提出的新動態(tài)保持一致也可能提供解決方案。組件功率和功率密度組件功率和功率密度在不斷提高。這是所有電子包裝設(shè)計師所面對的問題，而不僅僅是電信領(lǐng)域的工程師。盡管電信行業(yè)的功率和功率密度值不如超級計算機行業(yè)高，但在單個PCB上冷卻7W至11W邏輯設(shè)備，45W功率放大器設(shè)備以及60W至100W的情況并不少見。通常，PCB將處于密封模塊中，從而使冷卻更加困難。這就需要冷卻解決方案，該解決方案不僅將冷卻熱的組件，而且還要防止熱量影響周圍的有源和無源設(shè)備。引入3.3V和2.5V技術(shù)以及通過更好的制造過程控制來提高允許的硅工作溫度，已幫助延遲了電源問題的全部影響。 kjbaeedfwerfws
