ISO測(cè)試粉塵不足以代表天然粉塵，114第8章:現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)本章介紹了由于存在粉塵污染的ECM而導(dǎo)致的許多現(xiàn)場(chǎng)故障PCBA樣品的分析，本文使用的現(xiàn)場(chǎng)樣本來(lái)自在不受控制的室外操作環(huán)境中使用的電信設(shè)備，PCBA使用Sn-Pb焊膏和Sn熱風(fēng)焊料整(HASL)板表面處理。
日本島津粒徑儀(維修)持續(xù)維修中
我公司專(zhuān)業(yè)維修各種儀器，維修經(jīng)驗(yàn)二十年，維修的主要品牌有：英國(guó)Foundrax、美國(guó)GR、美國(guó)杰瑞、意大利Gibitre、意大利蓋比特、德國(guó)Hildebrand、海德堡、荷蘭Innovatest、德國(guó)KB、美國(guó)LECO力可、力可、日本Matsuzawa松澤、雷克斯、日本Mitutoyo三豐、瑞士PROCEQ博勢(shì)、奧地利Qness、美國(guó)Rex雷克斯、丹麥Struers司特爾、日本shimadzu島津、威爾遜等，儀器出現(xiàn)故障聯(lián)系凌科自動(dòng)化
此方法會(huì)產(chǎn)生大量灰塵，必須將其吸干凈，鋸只能切成直線(xiàn)，因此僅適用于某些陣列，只能使用佳厚度不超過(guò)1毫米的激光，懸垂零件–需要進(jìn)行預(yù)布線(xiàn)，以避免干擾面板分離:超出邊緣的組件可能會(huì)掉入相鄰的零件中，在拆卸面板時(shí)。 這些往往更小，重量更輕，并且更耐振動(dòng)，與PCB在防御應(yīng)用中，汽車(chē)PCB的安全性和可靠性要求得到了放大，軍方可能將PCB用于車(chē)輛，聯(lián)網(wǎng)計(jì)算機(jī)和應(yīng)用，所有這些都要求高級(jí)別的安全性和可靠性，以保護(hù)人員和安全。
日本島津粒徑儀(維修)持續(xù)維修中
1、顯示屏無(wú)法正常顯示
當(dāng)硬度計(jì)顯示屏無(wú)法正確顯示信息時(shí)，先檢查電源是否正確連接。如果電源連接正常但顯示屏仍然不活動(dòng)，則可能表示屏幕出現(xiàn)故障。這種情況，建議將硬度計(jì)送回廠家維修或更換屏幕。
2、讀數(shù)不穩(wěn)定或顯著偏差
如果硬度計(jì)在測(cè)試過(guò)程中顯示讀數(shù)不穩(wěn)定或出現(xiàn)明顯偏差，可能的原因包括：
缺乏校準(zhǔn)：硬度計(jì)在使用前需要校準(zhǔn)，以確保準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。長(zhǎng)期缺乏校準(zhǔn)或校準(zhǔn)不當(dāng)可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。解決方案是定期校準(zhǔn)并遵循硬度計(jì)手冊(cè)中的說(shuō)明。
測(cè)試環(huán)境不穩(wěn)定：硬度測(cè)試應(yīng)在穩(wěn)定的環(huán)境下進(jìn)行，避免外界干擾。不良的測(cè)試環(huán)境可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定。解決辦法是測(cè)試時(shí)選擇安靜且溫度穩(wěn)定的環(huán)境，避免其他設(shè)備的干擾。
樣品制備不當(dāng)：在硬度測(cè)試之前，必須對(duì)樣品進(jìn)行的制備。樣品的表面不規(guī)則性、雜質(zhì)或涂層可能會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。解決方案是在測(cè)試前清潔和拋光樣品，以確保表面光滑。
此外，在共振之前和共振時(shí)都可以非常準(zhǔn)確地獲得對(duì)隨機(jī)輸入的響應(yīng)，但是兩個(gè)解決方案之間的一致性在較高頻率下不是很好，因此，從分析模型獲得的grms值與有限元模型的grms值相差多達(dá)29%，考慮到分析模型的非常簡(jiǎn)單的性質(zhì)。 當(dāng)相對(duì)濕度超過(guò)臨界RH時(shí)，與飽和溶液的水化學(xué)勢(shì)相對(duì)應(yīng)，水將凝結(jié)直到建立衡，在吸濕性粉塵的情況下，我們通常將此稱(chēng)為潮解，從固體到溶液的一階相變是在相對(duì)濕度下發(fā)生的，這是固體成分的特征[80]，如果僅形成結(jié)晶水合物。 并且隨著PCB的發(fā)展，它們將在新行業(yè)中找到新的應(yīng)用，這些是您可能會(huì)發(fā)現(xiàn)要使用的印刷儀器維修的一些應(yīng)用程序，消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品印刷儀器維修常用的領(lǐng)域是消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品，各地有數(shù)百萬(wàn)人依靠電子設(shè)備，這已成為他們?nèi)粘Ｉ畹闹匾M成部分。
3、壓頭磨損或損壞
硬度計(jì)的壓頭直接接觸測(cè)試樣品，長(zhǎng)時(shí)間使用后可能會(huì)出現(xiàn)磨損或損壞。當(dāng)壓頭出現(xiàn)磨損或損壞跡象時(shí)，可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試錯(cuò)誤。解決辦法是定期檢查壓頭的狀況，如果發(fā)現(xiàn)明顯磨損或損壞，應(yīng)及時(shí)更換。
4、讀數(shù)異常大或小
如果硬度計(jì)讀數(shù)明顯偏離標(biāo)準(zhǔn)值，可能的原因包括：
壓力調(diào)整不當(dāng)：硬度計(jì)在測(cè)試時(shí)需要施加一定的壓力，壓力過(guò)大或不足都可能導(dǎo)致讀數(shù)異常。解決方法是根據(jù)樣品的硬度特性調(diào)整測(cè)試壓力。
硬度計(jì)的內(nèi)部問(wèn)題：硬度計(jì)的內(nèi)部組件可能會(huì)出現(xiàn)故障，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。解決辦法是對(duì)硬度計(jì)進(jìn)行定期維護(hù)，并按照制造商的說(shuō)明進(jìn)行維修或更換部件。
5、無(wú)法執(zhí)行自動(dòng)轉(zhuǎn)換
一些先進(jìn)的硬度計(jì)具有自動(dòng)轉(zhuǎn)換功能，但有時(shí)可能無(wú)法運(yùn)行。解決方法是檢查硬度計(jì)設(shè)置，確保正確選擇硬度標(biāo)準(zhǔn)和換算單位
為了獲得每種模式下PCB的共振透射率，將加速度計(jì)放在峰值響應(yīng)位置，如圖5.45所示，三個(gè)356B21㊣500g三軸微型[67]和1個(gè)Endevco型號(hào)2226C㊣1000g的三個(gè)PCB單軸微型加速度計(jì)[71]放置在99PCB上。 例如，由于粉塵中含有吸濕鹽，因此有人聲稱(chēng)粉塵的影響取決于粉塵中吸濕性化合物的臨界相對(duì)濕度[12][34][78][6]，因此，建議決定灰塵影響的重要參數(shù)是相對(duì)濕度[5]，由于缺乏對(duì)天然粉塵的實(shí)驗(yàn)研究，因此數(shù)據(jù)不支持這些說(shuō)法。 該蓋子上有27個(gè)孔，用于放置連接器，該連接器通過(guò)兩個(gè)帶帽螺釘連接到蓋子，可提供電源和數(shù)據(jù)傳輸，表4列出了通過(guò)有限元模型獲得的盒子的前兩個(gè)固有頻率，表4.帶有前蓋的盒子的前兩個(gè)固有頻率模式頻率[Hz]1140522099由基座和殼體組成的組件的模式形狀前蓋顯示。
在出現(xiàn)問(wèn)題或發(fā)生問(wèn)題時(shí)進(jìn)行這些測(cè)試是佳時(shí)間，因?yàn)闊o(wú)論是邊際還是邊際都將是重要的。如果在打開(kāi)設(shè)備后的一段時(shí)間內(nèi)問(wèn)題出現(xiàn)或消失，或同時(shí)發(fā)生和/或同時(shí)發(fā)生，則溫度幾乎可以肯定是和組件擴(kuò)展的一個(gè)因素。常見(jiàn)的物理問(wèn)題是焊點(diǎn)不良（冷），需要清潔和重新連接的連接器以及不良的電纜或電纜連接?？赡芰钊梭@訝的是，盡管組件可能在內(nèi)部發(fā)生故障并導(dǎo)致行為不穩(wěn)定，但在可能的原因列表中，這可能比上面列出的原因要少。有些例外是音頻功率放大器，電話(huà)設(shè)備和其他地方的機(jī)械繼電器?；旌瞎β史糯笃骱推渌β试O(shè)備。重?fù)舻瓤梢栽诓蝗∠略O(shè)備蓋的情況下進(jìn)行，并且可能會(huì)或可能不會(huì)露出任何東西。無(wú)論哪種情況，您都必須進(jìn)入室內(nèi)。但是，如果有影響，那么您將知道問(wèn)題出在內(nèi)部。
還建議將走線(xiàn)和接地層之間的距離保持在小0.008英寸，但0.010英寸，佳實(shí)踐-接地面:V評(píng)分時(shí)，請(qǐng)確保接地面距離儀器維修邊緣至少0.020英寸，對(duì)于布線(xiàn)板，請(qǐng)確保接地層與儀器維修邊緣之間的距離為0.010英寸。 二管)都可能受其自身模式(組件的本地模式)支配，因此，應(yīng)將此類(lèi)組件的固有頻率與儀器維修負(fù)載頻譜開(kāi)，此外，由于※裝配差異很小§可能導(dǎo)致不同的故障順序，因此可能無(wú)法準(zhǔn)確預(yù)測(cè)儀器維修上哪個(gè)電容器有可能發(fā)生故障。 現(xiàn)場(chǎng)退貨產(chǎn)品表現(xiàn)出與實(shí)驗(yàn)室測(cè)試相同的失效機(jī)理，這進(jìn)一步證實(shí)了實(shí)驗(yàn)結(jié)果的適用性，本論文的結(jié)構(gòu)如下，第2章回顧了灰塵的背景，第三章討論了與粉塵有關(guān)的失效機(jī)理，測(cè)試方法和失效時(shí)間模型，第4章回顧了阻抗測(cè)量和等效電路建模。 (5，26)系統(tǒng)的固有頻率可以從特征值問(wèn)題的解中獲得:[K]{u}=肋2[M]{u}(5.27)特征值問(wèn)題的解給出系統(tǒng)的三個(gè)固有頻率，結(jié)果列于表30，91表30.集成電路的固有頻率值f112615Hzf2。 該解決方案提供了電流密度，可用于確定由于電流過(guò)載而可能導(dǎo)致儀器維修或儀器維修損壞的高電流密度區(qū)域，Icepak的散熱解決方案，溫度結(jié)果表明儀器維修上的熱點(diǎn)是由金屬走線(xiàn)層中的功耗引起的，如果沒(méi)有多物理場(chǎng)模擬。
圖2.環(huán)境因素的典型表示。圖3.工作溫度和負(fù)載的典型表示。應(yīng)用僅當(dāng)了解制造商的方法和假設(shè)與終用戶(hù)的需求有直接關(guān)系時(shí)，MTBF的應(yīng)用才有意義。盡管該概念相當(dāng)直觀，但尚不清楚的是在供應(yīng)商之間進(jìn)行合理比較。鑒于在相同的方法和條件下，相似零件的MTBF小時(shí)有時(shí)會(huì)顯著不同，因此存在問(wèn)題。有人可以辯稱(chēng)數(shù)字差異是由數(shù)據(jù)操縱引起的；因此，不值得考慮，但數(shù)字值得仔細(xì)研究?？梢钥隙ǖ氖?，根據(jù)您的觀點(diǎn)，可能會(huì)有不同程度的解釋或“專(zhuān)門(mén)技術(shù)”，但是潛在的事實(shí)是，多年來(lái)，商業(yè)制造商一直在將其零件應(yīng)用于為級(jí)零件設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)。（盡管有Telecordia，但針對(duì)特定市場(chǎng)量身定制這些標(biāo)準(zhǔn)的動(dòng)靜很小。）這給設(shè)計(jì)師在合理分配應(yīng)力因子方面留下了一些模糊的指導(dǎo)。
支原體僅包含細(xì)胞膜，沒(méi)有細(xì)胞壁。它們不易受β-內(nèi)酰胺的影響，不會(huì)吸收革蘭氏染色。單個(gè)生物是多形的（假定形狀從球菌到棒狀再到細(xì)絲），大小從0.2到0.3微米或更小。已經(jīng)表明，無(wú)孢破壁蟲(chóng)能夠穿透0.2微米的過(guò)濾器。但是被0.1微米的過(guò)濾器保留（參見(jiàn)Sundaram，Eisenhuth等人，1999）。已知無(wú)定形毛蟲(chóng)與動(dòng)物來(lái)源的物質(zhì)有關(guān)，微生物介質(zhì)通常來(lái)自動(dòng)物。支原體的環(huán)境監(jiān)測(cè)需要選擇培養(yǎng)基（PPLO肉湯或瓊脂）。解析度：目前，該公司已決定通過(guò)0.1微米過(guò)濾器過(guò)濾準(zhǔn)備用于介質(zhì)填充的TSB（注意：我們不希望或要求公司常規(guī)使用0.1微米過(guò)濾器進(jìn)行介質(zhì)制備）。將來(lái)，該公司將在可從商業(yè)供應(yīng)商處獲得時(shí)使用無(wú)菌。
日本島津粒徑儀(維修)持續(xù)維修中阻尼在響應(yīng)中起著至關(guān)重要的作用，并且重要的是定義阻尼比的值，這可能是一個(gè)函數(shù)。頻率。如果不知道阻尼，則較低的值會(huì)產(chǎn)生保守的結(jié)果。圖PSD頻譜輸入。評(píng)估結(jié)構(gòu)完整性由于PSD分析預(yù)測(cè)了結(jié)構(gòu)的隨機(jī)振動(dòng)響應(yīng)，因此結(jié)果將以出現(xiàn)的可能性為依據(jù)。通常對(duì)所有PSD結(jié)果量使用3-sigma概率響應(yīng)。如果以正態(tài)（高斯）分布描述載荷，則3σ表示結(jié)果達(dá)到或低于此值的概率為99.7％。在承受振動(dòng)載荷的PCB上，薄弱的環(huán)節(jié)和有可能發(fā)生的故障將是組件與的連接。如果這些失敗，則的電氣功能將受到損害。一種流行的電子元器件壽命預(yù)測(cè)方法是Steinberg，哪里：B=行于組件的PCB邊的長(zhǎng)度（英寸）L=電子元件的長(zhǎng)度（英寸）h=PCB的高度或厚度（英寸）C=不同類(lèi)型電子元件的常數(shù)r=相對(duì)位置系數(shù)常數(shù)C是一個(gè)基于要評(píng)估的電子組件類(lèi)型的因子。 kjbaeedfwerfws
