EPRI觀(guān)點(diǎn)隨著核電行業(yè)面臨日益嚴(yán)重的老化和過(guò)時(shí)問(wèn)題，需要關(guān)注的一個(gè)領(lǐng)域是L&C系統(tǒng)中使用的電子板和組件的老化，L&C系統(tǒng)的現(xiàn)有功能測(cè)試方法通常會(huì)在電路故障發(fā)生后對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)，而新的監(jiān)視技術(shù)可在電路仍處于運(yùn)行狀態(tài)時(shí)提供故障指示。
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顯微硬度測(cè)試的常見(jiàn)問(wèn)題
1、準(zhǔn)確性 – 儀器以線(xiàn)性方式讀取公認(rèn)硬度標(biāo)準(zhǔn)（經(jīng)過(guò)認(rèn)證的試塊）的能力，以及將該準(zhǔn)確性轉(zhuǎn)移到測(cè)試樣本上的能力。
2、重復(fù)性- 結(jié)果是否可以使用公認(rèn)的硬度標(biāo)準(zhǔn)重復(fù)。
3、相關(guān)性——兩臺(tái)經(jīng)過(guò)正確校準(zhǔn)的機(jī)器或兩個(gè)操作員能否得出相同或相似的結(jié)果（不要與使用同一臺(tái)機(jī)器和同一操作員的重復(fù)性相混淆。
52電化學(xué)過(guò)程的對(duì)流通常在圓柱坐標(biāo)系中建模，圓柱坐標(biāo)系由三個(gè)坐標(biāo)組成:軸向位置y，徑向距離r和角度牟，17說(shuō)明了笛卡爾坐標(biāo)和圓柱坐標(biāo)之間的映射，z*r(y，牟)y牟y*x*圓柱坐標(biāo)系通常假定邊界條件和流動(dòng)與徑向條件無(wú)關(guān)。 因?yàn)楣こ處煱l(fā)現(xiàn)更容易查找走線(xiàn)中的故障，3.到處都使用PCB，您可能已經(jīng)知道或可能不知道這一點(diǎn)，但是PCB幾乎用于所有電氣領(lǐng)域，印刷儀器維修廣泛用于所有類(lèi)型的電子產(chǎn)品，從簡(jiǎn)單到復(fù)雜的設(shè)備，例如手機(jī)，板電腦和計(jì)算機(jī)。
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1、機(jī)器。
維氏顯微硬度測(cè)試儀通過(guò)使用自重產(chǎn)生力來(lái)進(jìn)行測(cè)量。這些輕負(fù)載裝置 (10-2,000 gf) 將自重直接堆疊在壓頭頂部。雖然這消除了放大誤差以及其他誤差，但這可能會(huì)導(dǎo)致重復(fù)性問(wèn)題。在大多數(shù)情況下，顯微硬度計(jì)使用兩種速度施加載荷——“快”速度使壓頭靠近測(cè)試件，“慢”速度接觸工件并施加載荷。壓頭的“行程”通常用測(cè)量裝置設(shè)定?？偠灾?，一件樂(lè)器給人留下印象大約需要 30 秒。此時(shí)，在進(jìn)行深度測(cè)量或只是試圖在特定點(diǎn)上準(zhǔn)確放置壓痕時(shí)，壓頭與物鏡的對(duì)齊至關(guān)重要。如果這部分弄錯(cuò)了，即使硬度值不受影響，但距樣品邊緣的距離也可能是錯(cuò)誤的，最終導(dǎo)致測(cè)量錯(cuò)誤。
在討論循環(huán)載荷時(shí)定義了以下關(guān)系:R:應(yīng)力比，Smin/Smax(3.1)A:振幅比，S/S(3，2)上午盡管使用正弦應(yīng)力定義了應(yīng)力分量，但應(yīng)力與時(shí)間的關(guān)系曲線(xiàn)的確切形狀似乎并不重要，大多數(shù)時(shí)候，機(jī)械系統(tǒng)中存在隨機(jī)類(lèi)型的加載。 以使產(chǎn)生的輻射由于電磁波而降低，從功率和底層吸收，當(dāng)然，在實(shí)際項(xiàng)目中，理論永遠(yuǎn)不會(huì)比實(shí)踐更重要，我想分享一些我在PCB布線(xiàn)設(shè)計(jì)方面的經(jīng)驗(yàn)，先，如果您不是PCB的路由設(shè)計(jì)者，那么請(qǐng)留出足夠的時(shí)間來(lái)檢查路由器的設(shè)計(jì)。
2、運(yùn)營(yíng)商。
顯微硬度測(cè)試很大程度上受操作者的能力和技能的影響。正確的聚焦是獲得準(zhǔn)確結(jié)果的關(guān)鍵因素。模糊圖像和結(jié)果很容易被誤讀或誤解。在許多情況下，操作員有時(shí)會(huì)急于進(jìn)行測(cè)試并取出零件。必須小心確保正確的結(jié)果。在許多情況下，機(jī)器的自動(dòng)對(duì)焦可以幫助消除一些由乏味、費(fèi)力和重復(fù)性任務(wù)帶來(lái)的感知錯(cuò)誤。
手動(dòng)記錄和轉(zhuǎn)換結(jié)果可能是操作員出錯(cuò)的另一個(gè)原因。疲勞的眼睛很容易將 99.3 視為 9.93。 自動(dòng)給出轉(zhuǎn)換和結(jié)果的數(shù)字顯微硬度測(cè)試儀可以幫助消除這個(gè)問(wèn)題。此外，相機(jī)幾乎可以連接到任何顯微硬度測(cè)試儀上，以幫助找到印模末端。
(4)切換3和4設(shè)置設(shè)定因所使用的再生放電電阻而異，→如果設(shè)置不正確，則不能正確檢測(cè)到再生放電控制電路故障警報(bào)(DCSW)，卸料單元示意圖，正確檢測(cè)再生放電控制的設(shè)置，腳注–有關(guān)啟動(dòng)過(guò)程的更多信息，請(qǐng)參見(jiàn)OEM手冊(cè)中標(biāo)題為[Alpha系列控制電機(jī)放大器伺服放大器單元"的第3節(jié)。 更好的密封做法，安裝更改或偏轉(zhuǎn)裝置，我們還將包括源自PWM20和ATS的運(yùn)行數(shù)據(jù)，以向您展示秤的性能和可重復(fù)性，我們支持我們的工作，并為每次翻新提供1年保修，當(dāng)Heidenhain線(xiàn)性秤進(jìn)修時(shí)，我們會(huì)在每個(gè)單元上進(jìn)行維修。
3、環(huán)境問(wèn)題。
由于顯微硬度測(cè)試中使用輕負(fù)載，振動(dòng)可能會(huì)影響負(fù)載精度。壓頭或試樣的振動(dòng)會(huì)導(dǎo)致壓頭更深地進(jìn)入零件，從而產(chǎn)生更柔軟的結(jié)果。顯微硬度計(jì)應(yīng)始終放置在專(zhuān)用、水平、堅(jiān)固、獨(dú)立的桌子上。確保您的桌子沒(méi)有靠墻或相鄰的桌子。
顯微硬度計(jì)硬度計(jì)機(jī)器具有高倍光學(xué)鏡片。如果在測(cè)試儀附近進(jìn)行切割、研磨或拋光，鏡頭上可能會(huì)沾上污垢，從而導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確。
焊料或環(huán)氧樹(shù)脂層)之間的固體熱界面，對(duì)流模式包括自然和空氣強(qiáng)制冷卻以及強(qiáng)制液體冷卻，輻射也是一個(gè)因素，然而，在印刷儀器維修工作溫度下，它不如傳導(dǎo)和對(duì)流重要，結(jié)果與模擬圖2具有填充和線(xiàn)路跡線(xiàn)的典型導(dǎo)電層圖2示出了具有許多填充和未填充跡線(xiàn)的典型導(dǎo)電層及其有限元等效電阻網(wǎng)絡(luò)。 在大多數(shù)情況下，均值接Miner的建議值1，28使用多個(gè)應(yīng)力水的隨機(jī)歷史進(jìn)行測(cè)試與Miner的定律有很好的相關(guān)性[34]，提出了Miner規(guī)則的另一種形式，用﹉niNi≡X(3，6)在期望的安全工廠(chǎng)選擇X。 如果該機(jī)器是患者的救生植入物，則PCB故障可能會(huì)造成嚴(yán)重的健康風(fēng)險(xiǎn)，這就是為什么領(lǐng)域的設(shè)備需要其可靠和持久的組件，而設(shè)備專(zhuān)業(yè)人員應(yīng)使用可靠的PCB制造和組裝源，PCBCart生產(chǎn)和組裝使用所有材料的PCB產(chǎn)品。
例如DIP或鷗翼SMT，因?yàn)樗鼈兛梢蕴峁└喂痰腜CB連接。隨著其他行業(yè)趨向于采用更小的無(wú)鉛封裝，這進(jìn)一步限制了器件的選擇?？赡芟Ｍ@得模具形式的零件，尤其是如果某個(gè)組件只能以塑料包裝的形式提供時(shí)。然后可以將管芯重新包裝在符合高溫要求的密封包裝或多芯片模塊中。但是，在少數(shù)幾個(gè)可以在高溫下工作的組件中，有一個(gè)較小的子集可以用作測(cè)試的。由于時(shí)間限制和測(cè)試設(shè)備的限制，業(yè)內(nèi)工程師可能傾向于將設(shè)備的鑒定限制為特定的應(yīng)用電路。而不覆蓋所有關(guān)鍵的設(shè)備參數(shù)，從而限制了組件在其他項(xiàng)目中的復(fù)用，而無(wú)需進(jìn)行進(jìn)一步的測(cè)試。關(guān)鍵的非數(shù)據(jù)表IC特性，例如金屬互連中的電遷移，可能導(dǎo)致高溫下的故障。經(jīng)過(guò)高溫設(shè)計(jì)和認(rèn)證的IC幸運(yùn)的是。
這是帶有焊膏的測(cè)試板中僅有的兩個(gè)區(qū)域，使用了基于松香的低活性，無(wú)鹵，無(wú)鉛(ROL0)焊膏，儀器維修頂部其他區(qū)域的金屬化層沒(méi)有焊料覆蓋層，使用常見(jiàn)的[帳篷"型或線(xiàn)性無(wú)鉛回流曲線(xiàn)，高于232oC的溫度持續(xù)30秒。 當(dāng)在溫度效應(yīng)和RH效應(yīng)測(cè)試中沒(méi)有電場(chǎng)的情況下執(zhí)行可靠性測(cè)試時(shí)，將使用AC測(cè)量，在每個(gè)溫度和相對(duì)濕度步驟的測(cè)試過(guò)程中，收集測(cè)試板的阻抗數(shù)據(jù)，通過(guò)使用AgilentE4980APrecisionLCRMeter掃描20Hz至2MHz的頻率范圍來(lái)測(cè)量AC阻抗譜。 當(dāng)B=0.5時(shí)，腐蝕滲透率的增長(zhǎng)規(guī)律是拋物線(xiàn)形的，其中通過(guò)腐蝕產(chǎn)物層的擴(kuò)散是控制速率的步驟，當(dāng)B值明顯低于0.5時(shí)，腐蝕產(chǎn)物表現(xiàn)出保護(hù)性鈍化特性，高于0.5的較高B值表示無(wú)保護(hù)性腐蝕產(chǎn)物，例如松散粘附的片狀銹層。 而對(duì)原始布局以來(lái)發(fā)生的所有修改只需進(jìn)行小的調(diào)整即可，檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的統(tǒng)一對(duì)于許多公司而言，由不同人員手動(dòng)執(zhí)行的檢查之間可能會(huì)有細(xì)微的差異，這并不是很難理解的，因?yàn)榧词贡仨氉袷匾恍?biāo)準(zhǔn)，每個(gè)人的看法也有所不同。
→如果設(shè)置不正確，則會(huì)發(fā)生警報(bào)?！绻?fù)載很輕，則電動(dòng)機(jī)可能會(huì)繼續(xù)運(yùn)行。（3）開(kāi)關(guān)2設(shè)定對(duì)于SVU，將開(kāi)關(guān)2設(shè)置為關(guān)閉。對(duì)于SVUC，將開(kāi)關(guān)2設(shè)置為打開(kāi)?！绻O(shè)置不正確，可能會(huì)出現(xiàn)VRDYOFF警報(bào)。（4）切換3和4設(shè)置設(shè)定因所使用的再生放電電阻而異。→如果設(shè)置不正確，則不能正確檢測(cè)到再生放電控制電路故障警報(bào)（DCSW）。卸料單元示意圖。正確檢測(cè)再生放電控制的設(shè)置。腳注–有關(guān)啟動(dòng)過(guò)程的更多信息，請(qǐng)參見(jiàn)OEM手冊(cè)中標(biāo)題為“Alpha系列控制電機(jī)放大器伺服放大器單元”的第3節(jié)。如果您的FanucAlpha放大器發(fā)出錯(cuò)誤代碼或僅運(yùn)行了制動(dòng)器，請(qǐng)先檢查伺服電機(jī)是否已連接，然后檢查電纜。如果發(fā)現(xiàn)放大器有故障。
?？迫鹆６葍x故障維修維修中地面仍會(huì)結(jié)霜的原因。在露點(diǎn)和干球溫度相對(duì)較低時(shí)以及在干燥的甜點(diǎn)氣候中，春季/秋季期間，大氣/邊遠(yuǎn)的天空有效地用作輻射熱。在陰天條件或高露點(diǎn)/干球溫度的夏季條件下，此方法無(wú)效。因此，應(yīng)使用保守的設(shè)計(jì)技術(shù)，并假定天空溫度等于當(dāng)?shù)氐沫h(huán)境溫度。（注意：如果在干燥，晴朗的氣候條件下對(duì)機(jī)柜進(jìn)行了測(cè)試，則應(yīng)從結(jié)果中排除向天空的額外輻射熱損失，以便更清晰地了解機(jī)柜在更正常的OSP條件下的性能。）機(jī)箱冷卻已經(jīng)提出了各種各樣的冷卻技術(shù)，并將其用于冷卻OSP電子設(shè)備外殼。這些技術(shù)包括從被動(dòng)自然對(duì)流到使用商用空調(diào)或熱泵的常規(guī)技術(shù)，以及使用熱虹吸管和相變材料（PCM）技術(shù)的新穎概念。許多這些技術(shù)已在年度INTELEC會(huì)議（電信能源會(huì)議）上進(jìn)行了介紹。 kjbaeedfwerfws
