Mesmacque等人[19]需要提出一個(gè)代表性的損傷指標(biāo)模型，以換取眾所周知的Miner的損傷累積規(guī)則，因?yàn)镸iner的規(guī)則未考慮裝載歷史，對(duì)于相同的載荷水，實(shí)驗(yàn)結(jié)果高于Miner對(duì)增加載荷的期望，但低于Miner對(duì)減小載荷的期望。
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顯微硬度測(cè)試的常見問題
1、準(zhǔn)確性 – 儀器以線性方式讀取公認(rèn)硬度標(biāo)準(zhǔn)（經(jīng)過認(rèn)證的試塊）的能力，以及將該準(zhǔn)確性轉(zhuǎn)移到測(cè)試樣本上的能力。
2、重復(fù)性- 結(jié)果是否可以使用公認(rèn)的硬度標(biāo)準(zhǔn)重復(fù)。
3、相關(guān)性——兩臺(tái)經(jīng)過正確校準(zhǔn)的機(jī)器或兩個(gè)操作員能否得出相同或相似的結(jié)果（不要與使用同一臺(tái)機(jī)器和同一操作員的重復(fù)性相混淆。
為了模擬電子元件在高的縱向和離心加速度下的行為，創(chuàng)建了關(guān)鍵電子元件(二管，晶體管和電容器)的有限元模型，通過模態(tài)分析獲得了它們的固有頻率和模態(tài)形狀，通過線性瞬態(tài)動(dòng)力學(xué)分析，研究了電子元件中隨時(shí)間變化的應(yīng)力。 微孔通常僅出現(xiàn)在板的外層，表面層沒有受到，并且與z軸擴(kuò)展一致地移動(dòng)，從而產(chǎn)生了類似[跳板"的移動(dòng)，實(shí)際上可以不受限制地自由移動(dòng)圖6假設(shè)使用相同的材，，料，則微孔下方的電介質(zhì)的CTE與微孔結(jié)構(gòu)周圍的電介質(zhì)的CTE相同。
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1、機(jī)器。
維氏顯微硬度測(cè)試儀通過使用自重產(chǎn)生力來進(jìn)行測(cè)量。這些輕負(fù)載裝置 (10-2,000 gf) 將自重直接堆疊在壓頭頂部。雖然這消除了放大誤差以及其他誤差，但這可能會(huì)導(dǎo)致重復(fù)性問題。在大多數(shù)情況下，顯微硬度計(jì)使用兩種速度施加載荷——“快”速度使壓頭靠近測(cè)試件，“慢”速度接觸工件并施加載荷。壓頭的“行程”通常用測(cè)量裝置設(shè)定?？偠灾?，一件樂器給人留下印象大約需要 30 秒。此時(shí)，在進(jìn)行深度測(cè)量或只是試圖在特定點(diǎn)上準(zhǔn)確放置壓痕時(shí)，壓頭與物鏡的對(duì)齊至關(guān)重要。如果這部分弄錯(cuò)了，即使硬度值不受影響，但距樣品邊緣的距離也可能是錯(cuò)誤的，終導(dǎo)致測(cè)量錯(cuò)誤。
這不僅可以為NASA節(jié)省成本，而且可以為整個(gè)電子行業(yè)節(jié)省成本，IPC(服務(wù)于印刷儀器維修和電子組裝行業(yè)的全球貿(mào)易協(xié)會(huì))對(duì)IPC-6012剛性印刷儀器維修的資格和性能規(guī)范進(jìn)行了修訂，負(fù)責(zé)編寫規(guī)范的IPC委員會(huì)在2015年發(fā)布IPC-6012D時(shí)。 除傳統(tǒng)的電子部分外，汽車電子產(chǎn)品還包括數(shù)控計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，車載移動(dòng)通信設(shè)備，車載音頻系統(tǒng)，視頻系統(tǒng)和空調(diào)等，所有系統(tǒng)的性能和功能實(shí)現(xiàn)均取決于PCB(印刷儀器維修))，其可靠性終會(huì)影響甚至影響汽車的性能，汽車電子的發(fā)展趨勢(shì)據(jù)估計(jì)。
2、運(yùn)營(yíng)商。
顯微硬度測(cè)試很大程度上受操作者的能力和技能的影響。正確的聚焦是獲得準(zhǔn)確結(jié)果的關(guān)鍵因素。模糊圖像和結(jié)果很容易被誤讀或誤解。在許多情況下，操作員有時(shí)會(huì)急于進(jìn)行測(cè)試并取出零件。必須小心確保正確的結(jié)果。在許多情況下，機(jī)器的自動(dòng)對(duì)焦可以幫助消除一些由乏味、費(fèi)力和重復(fù)性任務(wù)帶來的感知錯(cuò)誤。
手動(dòng)記錄和轉(zhuǎn)換結(jié)果可能是操作員出錯(cuò)的另一個(gè)原因。疲勞的眼睛很容易將 99.3 視為 9.93。 自動(dòng)給出轉(zhuǎn)換和結(jié)果的數(shù)字顯微硬度測(cè)試儀可以幫助消除這個(gè)問題。此外，相機(jī)幾乎可以連接到任何顯微硬度測(cè)試儀上，以幫助找到印模末端。
在某些情況下我們已經(jīng)看到混合IC故障，終會(huì)認(rèn)為該設(shè)備不可修復(fù)，因?yàn)檫@些故障無法用作替代組件，維修區(qū)已經(jīng)找到了一種方法，可以通過已經(jīng)使用兩年的過程來對(duì)這些電源進(jìn)行改造，除非編碼器出現(xiàn)故障，否則8500系列伺服電機(jī)的維修費(fèi)用也相對(duì)較低。 FR4環(huán)氧玻璃層壓板的熱分析顯示CTE在玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(Tg)之前是恒定的，在玻璃化轉(zhuǎn)變溫度下，CTE會(huì)增加8到10，多層PWB的典型CTE在Tg之前約為30ppm/C，然后在Tg之后增加到250至300ppm/C。
3、環(huán)境問題。
由于顯微硬度測(cè)試中使用輕負(fù)載，振動(dòng)可能會(huì)影響負(fù)載精度。壓頭或試樣的振動(dòng)會(huì)導(dǎo)致壓頭更深地進(jìn)入零件，從而產(chǎn)生更柔軟的結(jié)果。顯微硬度計(jì)應(yīng)始終放置在專用、水平、堅(jiān)固、獨(dú)立的桌子上。確保您的桌子沒有靠墻或相鄰的桌子。
顯微硬度計(jì)硬度計(jì)機(jī)器具有高倍光學(xué)鏡片。如果在測(cè)試儀附近進(jìn)行切割、研磨或拋光，鏡頭上可能會(huì)沾上污垢，從而導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確。
例如DigiKey或Mouser，有時(shí)候這確實(shí)是字面上的-他們會(huì)在DigiKey或Mouser分銷商旁邊設(shè)立商店，使用這些板房時(shí)，您不能選擇使用其他組件品牌和類型，如果您有自定義程序集，則可能是與此類公司合作的障礙。 保存整個(gè)邏輯示意圖項(xiàng)目:文件>保存邏輯示意圖項(xiàng)目，5.現(xiàn)在，我們將放置個(gè)組件，單擊右側(cè)工具欄中的[放置組件"圖標(biāo)，6.單擊原理圖圖紙的中間，屏幕上將出現(xiàn)一個(gè)[選擇組件"窗口，我們要放置一個(gè)電阻，在電阻R上搜索/過濾。 而不僅僅是通電功能測(cè)試，通過比較工作儀器維修上的Tracker簽名和非工作板上的Tracker簽名，可以對(duì)組件級(jí)別進(jìn)行故障排除，7好處:測(cè)試無法通電的儀器維修由于使用比較故障排除進(jìn)行模擬簽名分析，因此不需要原理圖或文檔降低上電后PCB遭受進(jìn)一步損壞的風(fēng)險(xiǎn)在加電之前對(duì)PCB進(jìn)行屏蔽以解決災(zāi)難性問題電容。
例如嘗試以歐姆為單位測(cè)量線路電壓。）但是，如果有人愿意為您提供出色的FlukeDMM，不要拒絕它:-)。晶體管，電容器，頻率計(jì)數(shù)器等的比例并不是真正必要的。但是，需要數(shù)字萬用表上的二管測(cè)試功能來正確偏置半導(dǎo)體結(jié)。即使這對(duì)于在線測(cè)試或某些功率晶體管或帶有內(nèi)置阻尼二管和/或基電阻的晶體管也沒有用。確保您有一組絕緣良好的測(cè)試探針。這是出于您自身的安全，因?yàn)槟赡苷跍y(cè)量相對(duì)較高的電壓。定期檢查是否有損壞，并根據(jù)需要進(jìn)行修理或更換。如果萬用表隨附的連接器不合格-脆弱的連接器或絕緣層很薄，也請(qǐng)更換它們。高阻抗高壓探頭有時(shí)可用于電視和顯示器。您可以構(gòu)建其中的一種即可滿足大多數(shù)消費(fèi)電子產(chǎn)品的需求。交流鉗形電流表。
通過使堆疊不衡，具有較大熱膨脹值的一側(cè)將影響整個(gè)儀器維修，銅面的實(shí)心層將與信號(hào)層不同地?cái)U(kuò)展，是在信號(hào)密度較小的情況下，將所有信號(hào)放在儀器維修一側(cè)的相同層上，而所有面都在另一側(cè)，這是災(zāi)難的根源，PCB制造商還應(yīng)盡自己的職責(zé)。 如果項(xiàng)目需要，可以選擇其他項(xiàng)目，確定所有項(xiàng)目后，按OK生成NC鉆削文件，該文件將保存在包含ProjectFile的文件夾下的子文件夾的默認(rèn)路徑中，如何通過CadenceAllegro(OrCAD)生成NC鉆孔文件。 合理性A，可靠性可靠性定義為組件按設(shè)計(jì)運(yùn)行的概率，而故障定義為組件按設(shè)計(jì)運(yùn)行的概率，電子元件的工作溫度與可靠性之間存在可預(yù)測(cè)的關(guān)系，這些組件的制造中使用的材料具有熱限制，并且如果超過這些熱限制，則會(huì)影響材料的物理和化學(xué)性質(zhì)。 因此，由于其質(zhì)量和剛度效應(yīng)，它會(huì)大地影響故障分布，下表5.13中比較了獲得的仿真和測(cè)試結(jié)果:表5.測(cè)試和仿真結(jié)果的故障等級(jí)比較帶有環(huán)氧樹脂涂層的PCB，，測(cè)試仿真，遇到的不一致可能再次是由于零件材料和幾何特性的差異。
膠粘劑：1.加速的固化時(shí)間表可能不適用于光纖。過度固化會(huì)產(chǎn)生脆性界面，在地面測(cè)試或使用條件下將不可靠。較高的固化溫度可能會(huì)損壞硬件?？焖俟袒赡軣o法提供足夠的時(shí)間使揮發(fā)物逸出，從而導(dǎo)致脫氣或脫氣故障。彎曲半徑：1.小彎曲半徑在很大程度上取決于所使用的光纖和電纜，并且好由設(shè)計(jì)人員和工藝工程師在工程文檔中進(jìn)行定義。未時(shí)，NASA-STD-8739.5需要使用默認(rèn)的小彎曲半徑。2.在集成操作中，包括定位連接器預(yù)配合，安裝連接器后蓋以及在安裝組件后移動(dòng)系統(tǒng)級(jí)組件時(shí)，都可以超過小彎曲半徑。每當(dāng)重新放置包含已安裝的光纖或光纜的硬件時(shí)，都必須格外小心以保持彎曲半徑限。BasicPCB專為滿足電子設(shè)計(jì)愛好者。
富臻硬度計(jì)指針不動(dòng)維修24小時(shí)報(bào)警掩蓋，未經(jīng)控制的修改等）盡管其中列出的一些問題可能是由于不良的安裝和維護(hù)慣造成的，但許多問題是由于在儀器設(shè)計(jì)和選擇階段做出的決策不充分或誤導(dǎo)所致。1.儀器/脈沖線路堵塞壓力變送器或相關(guān)脈沖管線的堵塞是經(jīng)常出現(xiàn)的問題，尤其是在測(cè)量負(fù)載有懸浮固體的流體或高粘度液體上的壓力時(shí)。堵塞也可能通過凍結(jié)或水合物形成而發(fā)生，這通常在低環(huán)境/過程溫度下會(huì)發(fā)生。脈沖管路部分或全部阻塞的影響是測(cè)量精度的降低和儀器對(duì)壓力變化的響應(yīng)變慢。在壞的情況下，壓力儀器可能會(huì)與過程，因此將無法提供代表實(shí)際流體壓力的壓力測(cè)量值。嘗試清除堵塞的脈沖管線時(shí)，脈沖管線堵塞也可能是導(dǎo)致事故的原因，尤其是在高壓/高溫條件下或在危險(xiǎn)流體上（如以下ClearguardPtyLtd的視頻所示）。 kjbaeedfwerfws
