在其使用壽命期內(nèi)都可能發(fā)生故障，無論設(shè)計得如何好，PCB上的電路或組件都會有很多原因，一些常見的原因是過電流，過電壓，污染，腐蝕，制造缺陷，工作環(huán)境和老化，在本文中，我們將研究老化以及它如何影響您設(shè)備上的電子板和組件。
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當(dāng)你的儀器出現(xiàn)如下故障時，如顯示屏不亮、示值偏大、數(shù)據(jù)不準(zhǔn)、測不準(zhǔn)、按鍵失靈、指針不動、指針抖動、測試數(shù)據(jù)偏大、測試數(shù)據(jù)偏小,不能開機，不顯示等故障，不要慌，找凌科自動化，技術(shù)維修經(jīng)驗豐富，維修后有質(zhì)保，維修速度快。
從50%到65%)，阻抗在107歐姆以上相對恒定，當(dāng)RH達到一定范圍時，兩個電之間的測試樣片的阻抗開始下降幾個數(shù)量級，當(dāng)RH為95%時，測試試樣的阻抗值在103到105歐姆之間，起始點定義為RH電，高于該電時。 該應(yīng)力實際上包含相對較高的縱橫比(板厚÷通孔直徑)，圖8描述了[4n4"的外觀施工，產(chǎn)品中未使用PTH建立互連的地方，對于這種類型的構(gòu)建，失效影響的層次結(jié)構(gòu)相對較均勻地劃分到通孔堆棧的下層附件(即埋入式通孔。
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(1)加載指示燈和測量顯微鏡燈不亮
先檢查電源是否連接好，然后檢查開關(guān)、燈泡等，如果排除這些因素后仍不亮，則需要檢查負載是否完全施加或開關(guān)是否正常。如果排除后仍不正常，就要從線路（電路）入手，逐步排查。
(2)測量顯微鏡渾濁，壓痕不可見或不清晰
這應(yīng)該從調(diào)整顯微鏡的焦距和光線開始。若調(diào)整后仍不清楚，應(yīng)分別旋轉(zhuǎn)物鏡和目鏡，并分別移動鏡內(nèi)虛線、實線、劃線的三個平面鏡。仔細觀察問題出在哪一面鏡子上，然后拆下，用長纖維脫脂棉蘸無水酒精清洗，安裝后按相反順序觀察，然后送修或更換千分尺。
在浸泡試驗的前8個小時中，讀數(shù)之間的間隔要比浸泡試驗后期的間隔短，因為預(yù)計在早期階段體重會更快地變化，40灰塵135灰塵2(%)30灰塵325灰塵4增，，益PCB20重量151050081624324048時間(小時)不同樣品的濕透。 如果在中心點上施加單位力并計算出撓度，則可以得到PCB模式的等效彈簧常數(shù)，種模式的等效彈簧常數(shù)為keqF=(5.8)w現(xiàn)在，如果我們使用公式5.1計算PCB的確切固有頻率，則可以通過keq肋=(5.9)計算PCB的等效質(zhì)量。
(3)當(dāng)壓痕不在視野范圍內(nèi)或輕微旋轉(zhuǎn)工作臺時，壓痕位置變化較大
造成這種情況的原因是壓頭、測量顯微鏡和工作臺的軸線不同。由于滑枕固定在工作軸底部，因此應(yīng)按下列順序進行調(diào)整。
①調(diào)整主軸下端間隙，保證導(dǎo)向座下端面不直接接觸主軸錐面；
②調(diào)整轉(zhuǎn)軸側(cè)面的螺釘，使工作軸與主軸處于同一中心。調(diào)整完畢后，在試塊上壓出一個壓痕，在顯微鏡下觀察其位置，并記錄；
③輕輕旋轉(zhuǎn)工作臺（保證試塊在工作臺上不移動），在顯微鏡下找出試塊上不旋轉(zhuǎn)的點，即為工作臺的軸線；
④ 稍微松開升降螺桿壓板上的螺絲和底部螺桿，輕輕移動整個升降螺桿，使工作臺軸線與測量顯微鏡上記錄的壓痕位置重合，然后擰緊升降螺桿。壓板螺釘和調(diào)節(jié)螺釘壓出一個壓痕并相互對比。重復(fù)以上步驟，直至完全重合。
(4)檢定中示值超差的原因及解決方法
①測量顯微鏡的刻度不準(zhǔn)確。用標(biāo)準(zhǔn)千分尺檢查。如果沒有，可以修理或更換。
②金剛石壓頭有缺陷。用80倍體視顯微鏡觀察是否符合金剛石壓頭檢定規(guī)程的要求。如果存在缺陷，請更換柱塞。
③ 若負載超過規(guī)定要求或負載不穩(wěn)定，可用三級標(biāo)準(zhǔn)小負載測功機檢查。如果負載超過要求（±1.0%）但方向相同，則杠桿比發(fā)生變化。松開主軸保護帽，轉(zhuǎn)動動力點觸點，調(diào)整負載（杠桿比），調(diào)整后固定。若負載不穩(wěn)定，可能是受力點葉片鈍、支點處鋼球磨損、工作軸與主軸不同心、工作軸內(nèi)摩擦力大等原因造成。 。此時應(yīng)檢查刀片和鋼球，如有鈍或磨損，應(yīng)修理或更換。檢查工作軸并清潔。注意軸周圍鋼球的匹配。
可以得出結(jié)論，所有觀察到的技術(shù)通常對于構(gòu)建可靠的薄板都是可行的，進一步的工作將必須集中于滿足功能需求的潛力，摘要傳統(tǒng)的單級微孔結(jié)構(gòu)通常被認為是印刷線路板(PWB)基板內(nèi)堅固的互連類型，現(xiàn)在，HDI技術(shù)的快速實施通常需要依次將3或4個級別的微孔加工成產(chǎn)品。 本質(zhì)上，二管在一個方向上提供電流，而在相反方向上阻止電流，二管是非常敏感的組件，因此在測試組件時應(yīng)格外小心，建議在測試電氣設(shè)備之前咨詢專業(yè)人士，要測試二管，您需要將二管的一端與PCB斷開，然后。
為了正確打印PCB標(biāo)簽，建議使用小300dpi（好是600dpi）的熱轉(zhuǎn)印打印機。為了確保這一點，建議使用樹脂色帶。由于儀器維修小巧而復(fù)雜，因此還建議使用標(biāo)簽貼標(biāo)機，該標(biāo)簽貼標(biāo)機可以集成到印刷過程中，以便直接直接貼在儀器維修上。支架是將板連接到基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)的列。通常將板擰緊到支腳上。通常用實體元素對支架進行建模?？梢允褂煤喕倪B接（例如，剛性梁）對螺釘建模。關(guān)鍵是能夠在這些支撐位置提取軸向力和剪切力。根據(jù)PCB所附著的結(jié)構(gòu)，支腳的另一端可以固定，也可以連接到至少部分包含在有限元模型中的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)。所采用的方法取決于基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)的靈活性。由于板上可能有許多組件，因此通常會確定一些關(guān)鍵組件（質(zhì)量/剛度比大或占位面積大）。
必須增加測試儀器維修的數(shù)量，以提高測試和仿真之間比較的準(zhǔn)確性，5.12硅酮增強鋁電解電容器壽命測試中的Weibull模型對失效鋁電解電容器的疲勞壽命(以時間為單位)的概率密度函數(shù)，可靠性函數(shù)和危險率函數(shù)進行了評估。 以確定失敗的周期數(shù)，楊慶杰等，[15]報道了一些關(guān)于表征塑料球柵陣列(PBGA)組件動態(tài)特性的工作，在這項研究中，通過使用實驗?zāi)B(tài)分析和有限元分析來識別塑料球柵陣列組件的BGA組件的固有頻率和模式形狀。 大多數(shù)可靠性工程師都了解這樣一個現(xiàn)實:在電測量過程中，關(guān)注的關(guān)鍵區(qū)域的靈敏度只是測試電路的體電阻的一小部分，由于涉及的幾何尺寸較小，因此在測試微孔時，這種情況會大大放大，任何微通孔可靠性工作的主要職責(zé)是能夠創(chuàng)建專門設(shè)計的測試車輛。 四個測試板中的兩個被暫停，在SEM下，該組中有故障和無故障的板均在10多個位置觀察到腐蝕(見36)，這是因為如果腐蝕產(chǎn)物沒有跨接在兩個相鄰的電上，則阻抗下降不會達到破壞標(biāo)準(zhǔn)，在腐蝕區(qū)域檢測到了銅和氯。 以及潛在的串?dāng)_問題，見圖6.38，在定義高頻電路的小線路間隔時，串?dāng)_是主要考慮因素，正向串?dāng)_的傳播方向與源信號相同，反向串?dāng)_的傳播方向相反，如圖6.串?dāng)_和反射是不同類型的噪聲，圖6.在不同電介質(zhì)中帶狀線幾何形狀中。
如果我們錯誤地猜測（假設(shè)）了未來的原因，我們的預(yù)防措施可能會產(chǎn)生額外的成本，甚至可能導(dǎo)致更嚴(yán)重的更高風(fēng)險。算命先生與書和水晶球我們都想知道未來–您使用哪種水晶球在預(yù)測電子產(chǎn)品的未來壽命時也是如此。由于無法清楚地追溯到電子設(shè)備故障的實際物理原理，因此關(guān)于故障原因的假設(shè)增加了成本，卻沒有收益。時至今日，人們早已確立的信念是，電子系統(tǒng)故障主要由熱應(yīng)力（缺少謂詞）驅(qū)動。盡管存在這樣的信念，但在當(dāng)今電子產(chǎn)品中，由熱應(yīng)力驅(qū)動的組件或系統(tǒng)中沒有固有的物理機制可追溯。電子公司的管理和市場營銷中的許多人都希望并希望可靠性工程師能夠預(yù)測電子系統(tǒng)的壽命。通過了解未來的故障率，我們可以在產(chǎn)品推出之前預(yù)算保修成本以及正確數(shù)量的備件和更換單元。
而無需更改PCB設(shè)計的任何方面。重要的材料屬性是面外（Z方向）熱膨脹系數(shù)（CTE）和面外彈性模量。選擇正確的材料屬性時，重要的是要了解供應(yīng)鏈中可用的內(nèi)容以及供應(yīng)鏈如何傳達這些材料屬性。例如，如圖2所示，面外CTE值的范圍很廣，但范圍有限（對于那些尋求在50-260°C之間擴展百分?jǐn)?shù)（％）的人，等效范圍為1.4％至4.8％）。但是，層壓板/預(yù)浸料供應(yīng)商通常從不提供面外模量值。以上列出的這些CTE值還不是故事的結(jié)局。這是因為層壓板和預(yù)浸料有多種玻璃樣式。從7628開始，其中包含36體積百分比（vol％）的玻璃纖維，一直到106，后者的玻璃纖維含量僅為16vol％。不同的玻璃樣式可以大地改變材料屬性。
Hugetall創(chuàng)誠致佳硬度計測試數(shù)據(jù)偏大維修修不好不收費使用傳統(tǒng)方法進行的高分辨率模擬需要復(fù)雜的網(wǎng)格生成，并且可能在計算上令人望而卻步，尤其是在存在具有大量熱源的復(fù)雜功率分配的情況下。為了模擬這種復(fù)雜性以及各種有源設(shè)備的存在，在具有3GBRAM的3GHzPentium4PC上，在13s內(nèi)即可獲得規(guī)定精度為1％的完整三維問題的穩(wěn)態(tài)解。整個結(jié)構(gòu)的代表性子集的熱行為如圖3所示，其中輪廓場分布繪制在IC的頂部水面（10×10mm2）上，而一個垂直面從切割的AA下落（10×1mm）2）。為了與功率模糊方法的結(jié)果進行比較，在沿著頂部SiIC中間的一條線上提取了溫度值（圖2中的AA剖面圖）。圖1中繪制的歸一化溫度結(jié)果顯示出良好的一致性，除了朝向Si塊的邊緣，功率模糊方法中不存在絕熱條件會導(dǎo)致溫度降低。 kjbaeedfwerfws
