TestStand半導(dǎo)體模塊提供了專門針對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試的功能，可降低開發(fā)成本和提高生產(chǎn)吞吐量。 功能包括：
? 動(dòng)態(tài)多站點(diǎn)編程，可將代碼復(fù)用于多個(gè)站點(diǎn)上（數(shù)量可調(diào)）
? 直觀的引腳圖編輯器，包括PXI和第三方儀器
? V100-17-RS4(X) 30 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試數(shù)據(jù)格式(STDF)結(jié)果處理器，使用業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的格式記錄參數(shù)測(cè)試結(jié)果
TestStand半導(dǎo)體模塊進(jìn)一步補(bǔ)充了NI日益壯大的半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品家族，半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品已經(jīng)包含了STS、數(shù)百個(gè)高性能PXI儀器以及TestStand和LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件等各種功能強(qiáng)大的軟件。 NI智能化的平臺(tái)方法正在幫助半導(dǎo)體制造商降低RF和混合信號(hào)的測(cè)試成本，提高測(cè)試的吞吐量。
除了以上新品， NI 在2016 Semicon還展示了包括基于NI平臺(tái)的藍(lán)牙自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)、NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)、第三代PXI控制器/機(jī)箱和最新電源模塊、高速串行協(xié)議測(cè)試、ADC自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)等演示系統(tǒng)，歡迎大家光臨美國(guó)國(guó)家儀器位于上海新國(guó)際博覽中心N5的5443號(hào)展位。
V100-17-RS4(X) 30
V100-17-ET2 30
V130-33-T2 30
G34900A-1138
ACP3602-2B
ACM-D2ACM1K40030H
TYPE-5000
P0961AA
FW-EPC-12VRS
SM222
CAN-AC2-PCI
PS416-OUT-400
PNOZV30SCEV65M-01460
3-711-2395G
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400324/401400
400324/401400
AX/4000
MD21-1G1BR
EPIC-III EP3-E-4-A
IBS S5 DSC I-T
12-0322
CPI 24V DC/12W
numatics cylinder? bore 25mm stroke 66 1/2 (3201)
ALPHA BLACK NYLON LACING TAPE (2489)
IEC CORPORATION MOTOR MODEL: TECFCS-6-6 (1263)
VISE NO. 3 6 1/4" WIDE (3239)
CMO CLEVELAND MACHINE CONTROLS , SERVO MOTOR (632)
HEIDENHAIN EXE 602 D/5-F (986)
FORCE CONTROL POSIDYNE CLUTCH/BRAKE 02-353-L10A (3690)
PIPE TOOL BENDER MODEL 5100 (2186)
ALLEN BRADLEY REVERSE DRUM SWITCH (3400)
EL SERIES UVP 8WT HANDHELD LAMP WITH THE STAND MODEL U
EL SERIES UVP 8WT HANDHELD LAMP MODEL UVL-18 WITHOUT A
HEIDENHAIN 40340011 SIGNAL SPLITTER (2517)
