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產(chǎn)品簡介
MINITEST 730涂層測厚儀--德國EPK
MINITEST 730涂層測厚儀--德國EPK
產(chǎn)品價(jià)格:¥詢
上架日期:2011-02-28 09:55:17
產(chǎn)地:德國
發(fā)貨地:深圳
供應(yīng)數(shù)量:不限
最少起訂:1臺
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詳細(xì)說明

    德國EPK MINITEST 730涂層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置
    -MINITEST 720/730/740主機(jī)(可選)
    -SIDSP探頭(可選)
    -校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
    -操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語
    -2節(jié)AA電池

    德國EPK MINITEST 730涂層測厚儀推薦配件:
    帶塑料手提箱,內(nèi)含:   -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架

    德國EPK MINITEST 730涂層測厚儀主機(jī)


    型號
    特性

    MINITEST 720

    MINITEST 730

    MINITEST 740

    探頭類型

    內(nèi)置

    外置

    內(nèi)置外置可換

    數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

    10

    10

    100

    存儲數(shù)據(jù)量

    最多10,000個(gè)

    最多10,000個(gè)

    最多100,000個(gè)

    統(tǒng)計(jì)值

    讀值個(gè)數(shù),最小值,最大值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)

    校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范

    ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)

    校準(zhǔn)模式

    出廠設(shè)置校準(zhǔn),零點(diǎn)校準(zhǔn),2點(diǎn)校準(zhǔn),3點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值

    極限值監(jiān)控

    聲、光報(bào)警提示超過極限

    測量單位

    um,mm,cm;mils,inch,thou

    操作溫度

    -10℃-60℃

    存放溫度

    -20℃-70℃

    數(shù)據(jù)接口

    IrDA 1.0(紅外接口)

    電源

    2節(jié)AA電池

    標(biāo)準(zhǔn)

    DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
    ASTM B244,B499,D7091,E376
    AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

    體積

    157mm x 75.5mm x 49mm

    重量

    約175g

    約210g

    約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

    德國EPK MINITEST 730涂層測厚儀探頭技術(shù)數(shù)據(jù)表:
    SIDSP探頭

    探頭
    特性

    F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5

    F2

    F5,N2.5,F(xiàn)N5

    F15

    F

    N

    F

    F

    N

    F

    測量范圍

    0-1.5mm

    0-0.7mm

    0-2mm

    0-5mm

    0-2.5mm

    0-15mm

    使用范圍

    小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用

    粗糙表面

    標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛

    厚涂層

    測量原理

    磁感應(yīng)

    電渦流

    磁感應(yīng)

    磁感應(yīng)

    電渦流

    磁感應(yīng)

    信號處理

    探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP)

    精確度

    ±(1μm+0.75%讀值)

    ±(1.5μm+0.75%讀值)

    ±(5μm+0.75%讀值)

    重復(fù)性

    ±(0.5μm+0.5%讀值)

    ±(0.8μm+0.5%讀值)

    ±(2.5μm+0.5%讀值)

    低端分辨率

    0.05μm

    0.1μm

    1μm

    最小曲率半徑(凸)

    1.0mm

    1.5mm

    5mm

    最小曲率半徑(凹,外置探頭)

    7.5mm

    10mm

    25mm

    最小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭)

    30mm

    30mm

    30mm

    最小測量面積

    Φ5mm

    Φ10mm

    Φ25mm

    最小基體厚度

    0.3mm

    40μm

    0.5mm

    0.5mm

    40μm

    1mm

    連續(xù)模式下測量速度

    每秒20個(gè)讀數(shù)

    單值模式下最大測量速度

    每分鐘70個(gè)讀數(shù)

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