采用X射線衍射(XRD)和分析透射電鏡(TEM)測(cè)試技術(shù),對(duì)貴州產(chǎn)70、120、210kN和日本產(chǎn)120、210kN瓷絕緣子產(chǎn)品中長(zhǎng)石物相組成、結(jié)構(gòu)特征進(jìn)行了測(cè)定和觀察.結(jié)果表明,上述類型的瓷絕緣子產(chǎn)品均含有不等量的鉀長(zhǎng)石和斜長(zhǎng)石,隨瓷絕緣子等級(jí)增高、結(jié)晶質(zhì)含量越高其長(zhǎng)石含量降低,證實(shí)了高等級(jí)瓷絕緣子中存在長(zhǎng)石,并分析其可能的形成機(jī)理.懸式瓷絕緣子串電壓分布及發(fā)熱特征基礎(chǔ)上進(jìn)行了討論,分析了紅外成像測(cè)溫法和火花間隙法等常見(jiàn)檢測(cè)劣化絕緣子方法的工作原理,對(duì)懸式瓷絕緣子低(零)值帶電檢測(cè)進(jìn)行了模擬試驗(yàn),對(duì)比分析了紅外成像測(cè)溫法和火花間隙法對(duì)低(零)值絕緣子檢測(cè)的有效性和準(zhǔn)確性,總結(jié)了變電站絕緣子劣化檢測(cè)的方法和措施。對(duì)盤型懸式瓷絕緣子的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)、抽樣檢測(cè)情況進(jìn)行了介紹,依據(jù)規(guī)程采用量規(guī)和鎖緊銷有效性等測(cè)試方法進(jìn)行了絕緣子尺寸特性和機(jī)械破壞負(fù)荷試驗(yàn),利用概率統(tǒng)計(jì)理論,即結(jié)果求均方法對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行了無(wú)偏估計(jì)與分析,減少人為因素的干擾,提高了檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性,達(dá)到檢驗(yàn)懸式瓷絕緣子機(jī)械與連接性能的目的.
