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產品簡介
德國FISCHER菲希爾臺式X射線測量儀器
德國FISCHER菲希爾臺式X射線測量儀器
產品價格：￥面議
上架日期：2021-03-23 21:05:58
產地：本地
發(fā)貨地：本地至全國
供應數量：不限
最少起訂：1臺
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詳細說明

    品牌：德國FISCHER 加工定制：是 型號：CMS2
    類型：鍍層 測量范圍：可達 80  mm 顯示方式：數顯
    電源電壓：220 V 外形尺寸：570×760×650 mm

    德國FISCHER菲希爾臺式X射線測量儀器 

    FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術，能提供的性能和靈活性。由于運用了各種測量技術，因此能夠為任何測量任務提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產和質量管理系統(tǒng)中。


    XAN500
    一臺儀器，三種作業(yè)模式：XAN®500不只是一臺手持便攜式XRF設備，它還可以轉變?yōu)榕_式儀器或者整合到生產線中。

    MMS PC2
    采用不同測量技術的模塊化系統(tǒng)：非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關的各種需求。

    CMS2
    臺式測厚儀，幾乎可測量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層（包括多鍍層）的厚度。

    GOLDSCOPE
    GOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設計的

    XAN
    用于快速、高效地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器。

    XUL / XULM
    基于 X 射線熒光法的測試儀器，堅固耐用，快速、高效地測量鍍層厚度，特別適合電鍍行業(yè)。

    XDL / XDLM / XDAL
    功能強大：XDL 系列儀器具有的配置方案，可手動或自動測試，是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。

    XDV-SDD
    FISCHERSCOPE® XDV-SDD專為滿足*高要求的鍍層厚度測量和材料分析而設計

    XDV-μ
    FISCHER的XDV-μ型系列儀器，可用于測量電子或珠寶等行業(yè)中*微小結構的產品

    XUV
    X 射線熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測量室。

    XDL / XDLM / XDAL
    憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向，XDL® 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據不同的測量需求選擇*適合的 X 射線儀器。

    特性：
    ? X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務
    ? 由于測量距離可以調節(jié)（*大可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
    ? 通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實現自動化的批量測試
    ? 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設備）
    應用：

    鍍層厚度測量
    ? 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
    ? 電路板上較薄的導電層和/或隔離層
    ? 復雜幾何形狀產品上的鍍層
    ? 鉻鍍層，如經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
    ? 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量
    材料分析
    ? 電鍍槽液分析
    ? 電子和半導體行業(yè)中的功能性鍍層分析



    德國 X 射線熒光鍍層厚度測量及材料分析儀
    FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及
    材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能全自
    動檢測大規(guī)模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。



    XDL 240 特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監(jiān)控。


    FISCHERSCOPE ® X-RAY XDL ® 240 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用自動方
    式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產的零部件上的鍍層。



    典型的應用領域有：
    ? 測量大規(guī)模生產的電鍍部件
    ? 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
    ? 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層
    ? 全自動測量，如測量印刷線路板
    ? 分析電鍍溶液


    XDL 240 有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經常校準儀器。
    比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。
    由于采用了 FISCHER 完全基本參數法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣
    品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。


    設計理念
    FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。馬達驅動的 X-
    Y 工作臺，當測量門打開時，工作臺會自動移到放置樣品的位置；馬達驅動的 Z 軸系
    統(tǒng)，可編程運行。


    高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以精準定位測量位置。通過視頻
    窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。配備了激光點，可以輔助定位并快速對準測
    量位置。


    測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計，由此儀器就可以測量比測
    量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。


    帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的精準調
    整。


    所有的儀器操作，以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示，都可以通過功能
    強大而界面友好的 WinFTM ® 軟件在電腦上完成。


    XDL 型鍍層測厚及材料分析儀作為受完全保護的儀器，型式許可完全符合
    德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)的規(guī)定。






    德國X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀

    通用 規(guī)格
    設計用途 能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF)， 用于測定超薄鍍層和溶液分析。
    元素范圍 從元素 氯(17) 到 鈾(92)
    配有可選的 WinFTM® BASIC 軟件時，*多可同時測定 24 種元素
    設計理念 臺式儀器，測量門向上開啟
    測量方向 由上往下
    X 射線源
    X 射線管 帶鈹窗口的鎢管
    高壓 三檔： 30 kV，40 kV，50 kV
    孔徑（準直器） ? 0.3 mm 可選：? 0.1 mm； ? 0.2 mm；長方形 0.3 mm x 0.05 mm
    測量點尺寸 取決于測量距離及使用的準直器大小，
    實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致
    *小的測量點大小約 ? 0.2mm
    X 射線探測
    X 射線接收器
    測量距離
    比例接收器
    0 ~ 80 mm，使用磚利保護的 DCM 測量距離補償法
    樣品定位
    視頻系統(tǒng)
    高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置
    手動聚焦，對被測位置進行監(jiān)控
    十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸）
    可調節(jié)亮度的LED照明，激光光點用于精準定位樣品
    放大倍數 40x – 160x
    電氣參數
    電源要求 220 V ，50 Hz
    功率 *大 120 W （不包括計算機）
    保護等級 IP40
    尺寸規(guī)格
    外部尺寸 寬×深×高[mm]：570×760×650
    內部測量室尺寸 寬×深×高[mm]：460×495x（參考“樣品*大高度”部分的說明）
    重量 120 kg
    環(huán)境要求
    使用時溫度 10°C – 40°C
    存儲或運輸時溫度 0°C – 50°C
    空氣相對濕度 ≤ 95 %，無結露


    工作臺
    設計 馬達驅動，可編程 X/Y 平臺
    255 x 235 mm
    ≤ 80 mm/s
    ≤ 0.01 mm 單向
    300 x 350 mm
    馬達驅動，可編程運行
    140 mm
    5 kg，降低精度可達 20kg
    140 mm
    有
    X/Y 平臺*大移動范圍
    X/Y 平臺移動速度
    X/Y 平臺移動重復精度
    可用樣品放置區(qū)域
    Z 軸
    Z 軸移動范圍
    樣品*大重量
    樣品*大高度
    激光（1 級）定位點
    計算單元
    計算機 帶擴展卡的 Windows ® 計算機系統(tǒng)
    軟件 標準： WinFTM ® V.6 LIGHT
    可選： WinFTM ® V.6 BASIC，PDM，SUPER


    執(zhí)行標準
    CE 合格標準 EN 61010
    型式許可 作為受完全保護的儀器
    型式許可完全符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)的規(guī)定。


    訂貨號
    FISCHERSCOPE X-RAY XDL240  604-498
    如有特殊要求，可與 FISCHER 磋商，定制特殊的 XDL 型號。
    FISCHERSCOPE ® ; XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ® 是 Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen – Germany 的注冊商標。
    Windows ® 是 Microsoft Corporation 在美國及其他地區(qū)的注冊商標。
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