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PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH 公司提供膜層測厚儀的探頭，它只需和普通電腦的串口線相連。所以普通膜層測厚儀的功

能均可通過與WINDOWS操作系統(tǒng)匹配的通用電腦軟件STATWIN 2002來實現(xiàn)。

當啟動statwin 2002時，一個真實的涂層測厚儀顯示圖像就可以顯示在個人電腦的屏幕上。所有功能操作只需點擊一下鼠標

或鍵盤。 STATWIN 2002用statwin 2002 ，可以分批儲存和管理幾乎任何數(shù)量的測量數(shù)據(jù)。文件和歸檔幾乎是無限的。 此

外，該軟件附帶了大量的統(tǒng)計功能，可以實現(xiàn)測量評估和批次。

除了有測量鐵磁性基體上非鐵磁涂層的厚度（如鋼鐵上的漆層或鉻層）和導電材料上的非導電層涂層的厚度（如非鐵金屬上

的漆層），測量范圍到1200 μ m的標準探頭，我們還有特殊高精度的、能測量不同的小部位或復雜的幾何形狀的探頭，雙

晶探頭可測量厚度高達12.5mm，我們同時還提供完整的配件。

為固定測試有特別的設計， PC-leptoskop 2050是一個的膜層測厚儀。