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產(chǎn)品簡介
伯東 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP140 用于鍍制 TiN 薄膜
伯東 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP140 用于鍍制 TiN 薄膜
產(chǎn)品價(jià)格:¥11
上架日期:2020-11-17 14:23:53
產(chǎn)地:美國
發(fā)貨地:本地至全國
供應(yīng)數(shù)量:不限
最少起訂:1臺(tái)
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詳細(xì)說明

    傳統(tǒng)磁控濺射制備工藝存在一個(gè)突出的問題, 當(dāng)離子能量較低時(shí),在濺射沉積過程中會(huì)發(fā)生 “遮蔽效應(yīng)”, 會(huì)使薄膜結(jié)構(gòu)疏松, 產(chǎn)生孔隙等缺陷, 這直接影響著薄膜的性能.

     

    為提高制備薄膜的致密度, 減少結(jié)構(gòu)缺陷, 提高耐蝕性能, 國內(nèi)某光學(xué)薄膜制造商采用伯東 KRI 考夫曼聚焦型射頻離子源 RFICP 140 用于磁控濺射鍍制 TiN 薄膜.

     

    伯東 KRI 射頻離子源 RFICP 140 技術(shù)參數(shù):

    型號

    RFICP 140

    Discharge

    RFICP 射頻

    離子束流

    >600 mA

    離子動(dòng)能

    100-1200 V

    柵極直徑

    14 cm Φ

    離子束

    聚焦

    流量

    5-30 sccm

    通氣

    Ar, Kr, Xe, O2, N2, H2, 其他

    典型壓力

    < 0.5m Torr

    長度

    24.6 cm

    直徑

    24.6 cm

    中和器

    LFN 2000

    客戶采用離子源輔助磁控濺射鍍膜技術(shù)在 304 不銹鋼和 P 型(100)晶向硅片上制備TiN納米薄膜.

     

    推薦理由:

    聚焦型射頻離子源一方面可以增加束流密度, 提高濺射率; 另一方面減小離子束的散射面積, 減少散射的離子濺射在靶材以外的地方引起污染

     

    運(yùn)行結(jié)果:

    1. 通過KRI 考夫曼聚焦型射頻離子源 RFICP 140 濺射作用將優(yōu)先形成的遮蔽效應(yīng), 制備的薄膜具有較高致密度.

    2. 減少結(jié)構(gòu)缺陷

    3. 提高耐蝕性能

     

    伯東是德國 Pfeiffer 真空泵檢漏儀質(zhì)譜儀真空計(jì), 美國 KRI 考夫曼離子源, 美國HVA 真空閥門, 美國 inTEST 高低溫沖擊測試機(jī), 美國 Ambrell 感應(yīng)加熱設(shè)備和日本 NS 離子蝕刻機(jī)等進(jìn)口知名品牌的指定代理商.

     

     

    若您需要進(jìn)一步的了解詳細(xì)信息或討論, 請參考以下聯(lián)絡(luò)方式:

    上海伯東: 羅先生                               臺(tái)灣伯東: 王女士
    T: +86-21-5046-1322                   T: +886-3-567-9508 ext 161
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