羅克韋爾 1771-IL 機架
工業(yè)電路板維修技巧
不能過分依賴在線測試儀
1.功能測試不能代替參數(shù)測試
2. 功能測試僅能測試到器件的截止區(qū)，放大區(qū)和飽和區(qū)，但無法了解此時的工作頻率的高低和速度的快慢。
3. 對數(shù)字芯片而言，僅知道有高低電平的輸出變化，但無法查出它的上升和下降沿的變化速度。
4. 對于模擬芯片，它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布，解決信號方案的不同的影響，是錯綜復(fù)雜的。就目前的在線測試技術(shù)，要解決模擬芯片在線測試是不可能的。所以，這項功能測試的結(jié)果，僅能供參考。
羅克韋爾 1771-IL 機架
| 1769-OB16P | 1771-IFMS |
| 1769-OB32 | 1771-IG |
| 1769-OB32T | 1771-IGD |
| 1769-OB8 | 1771-IH |
| 1769-OF2 | 1771-IL |
羅克韋爾 1771-IL 機架
| IC697CPU731 | IC693ALG221 |
| IC697CPU732 | IC693ALG222 |
| IC697CPU771 | IC693ALG223 |
| IC697CPU772 | IC693ALG390 |
| IC697CPU781 | IC693ALG391 |
羅克韋爾 1771-IL 機架
西門子全球董事會主席，總裁兼執(zhí)行官博樂仁（Roland Busch）與英偉達創(chuàng)始人兼執(zhí)行官黃仁勛（Jensen Huang）在西門子Xcelerator發(fā)布活動上的合影。
