GE IC693BEM331 控制器
3、用ASA-VI曲線掃描測試對測試庫尚未涵蓋的器件進行比較測試
由于ASA-VI智能曲線掃描技術(shù)能適用于對任何器件的比較測試，只要測試夾能將器件夾住，再有一塊參照板，通過對比測試，同樣對器件具備較強的故障偵測能力。該功能彌補了器件在線功能測試要受制于測試庫的不足，拓展了儀器對電路板故障的偵測范圍?，F(xiàn)實中往往會出現(xiàn)無法找到好板做參照的情景，而且待修板本身的電路結(jié)構(gòu)也無任何對稱性，在這種情況下，ASA-VI曲線掃描比較測試功能起不了作用，而在線功能測試由于器件測試庫的不完全，無法完成對電路板上每一個器件都測試一遍，電路板依然無法修復(fù)，這兒就是電路在線維修儀的局限，就跟沒有包治百病的藥一樣。
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| IC693APU302 | IC693MDL643RR |
| IC693APU305 | IC693MDL644RR |
| IC693BEM320 | IC693MDL645 |
| IC693BEM321 | IC693MDL646 |
| IC693BEM331 | IC693MDL648 |
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| 140NOE21100 | 140XTS01209 |
| 140NOE21110 | 140XTS01212 |
| 140NOE25110 | 140XTS10206 |
| 140NOE77100 | 140NOE77111 |
| 140NOE77101 | 140NOM21100 |
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西門子全球董事會主席，總裁兼執(zhí)行官博樂仁(Roland Busch)表示：“映射現(xiàn)實、基于物理的數(shù)字孿生內(nèi)嵌到工業(yè)元宇宙中，為人們創(chuàng)造一個可以交互、協(xié)作以解決現(xiàn)實世界問題的虛擬世界，從而為經(jīng)濟和產(chǎn)業(yè)轉(zhuǎn)型釋放無限潛能。
