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KL-4AD  模塊  不作他選

  KL-4AD  模塊  不作他選

  Vincent Ho, CEO at UfiSpace表示：“FemtoClock 3是一款能為我們提供超低抖動(dòng)性能，同時(shí)還能保持低功耗、優(yōu)化印刷電路板設(shè)計(jì)并降低下一代交換機(jī)解決方案的PCB板面積的時(shí)鐘解決方案。借助瑞薩打造的時(shí)鐘解決方案，讓我們有能力以高效率和低成本的方式推出先進(jìn)產(chǎn)品?！?

FemtoClock 3產(chǎn)品家族的關(guān)鍵特性

• 業(yè)界領(lǐng)先的25fs-rms抖動(dòng)性能超過(guò)下一代112Gbps和224Gbps SerDes參考時(shí)鐘要求
• 支持多達(dá)4個(gè)時(shí)鐘域，允許從單個(gè)器件生成所有系統(tǒng)時(shí)鐘
• 產(chǎn)品型號(hào)多樣，可提供抖動(dòng)衰減、時(shí)鐘同步和時(shí)鐘產(chǎn)生功能，并具有8或12個(gè)差分輸出端
• 功耗低至1.2W，使用1.8V單電源供電
• 集成非易失性存儲(chǔ)器，可在工廠進(jìn)行器件出廠定制且客戶無(wú)需承擔(dān)額外費(fèi)用
• 小型7mm x 7mm 48引腳VFQFPN封裝，和9mm x 9mm 64引腳VFQFPN封裝
• 符合ITU-T G.8262和G.8262.1標(biāo)準(zhǔn)，用于增強(qiáng)型同步以太網(wǎng)
• 支持多種工作模式的單芯片方案，極大的簡(jiǎn)化了整體時(shí)鐘樹

FemtoClock 3支持多種工作模式，包括同步、抖動(dòng)衰減和時(shí)鐘發(fā)生?？蛻艨蓪⑷翭emtoClock 3解決方案與瑞薩公司的ClockMatrix?、VersaClock、時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)器和有源晶振等時(shí)鐘解決方案組合在一起，以滿足高性能有線基礎(chǔ)設(shè)施和數(shù)據(jù)中心的高要求、高可靠性復(fù)雜時(shí)鐘設(shè)計(jì)需求。

FemtoClock 3與瑞薩IC Toolbox（RICBox）應(yīng)用程序無(wú)縫結(jié)合，使用戶能夠?qū)υu(píng)估板上的器件進(jìn)行配置及編程。此外，RICBox還可與云平臺(tái)上的瑞薩實(shí)驗(yàn)室（Renesas Lab）連接，為用戶帶來(lái)虛擬連接至真實(shí)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境的能力。

成功產(chǎn)品組合

瑞薩將FemtoClock 3與其產(chǎn)品組合中的眾多兼容器件相結(jié)合，創(chuàng)建了廣泛的“成功產(chǎn)品組合”，包括1600G固定外形交換機(jī)。這些“成功產(chǎn)品組合”基于相互兼容且可無(wú)縫協(xié)作的產(chǎn)品，具備經(jīng)技術(shù)驗(yàn)證的系統(tǒng)架構(gòu)，帶來(lái)優(yōu)化的低風(fēng)險(xiǎn)設(shè)計(jì)，以加快產(chǎn)品上市速度。瑞薩現(xiàn)已基于其產(chǎn)品陣容中的各類產(chǎn)品，推出超過(guò)400款“成功產(chǎn)品組合”，使客戶能夠加速設(shè)計(jì)過(guò)程，更快地將產(chǎn)品推向市場(chǎng)。

KL-4AD  模塊  不作他選  

不能過(guò)分依賴在線測(cè)試儀 

1.功能測(cè)試不能代替參數(shù)測(cè)試 
2. 功能測(cè)試僅能測(cè)試到器件的截止區(qū)，放大區(qū)和飽和區(qū)，但無(wú)法了解此時(shí)的工作頻率的高低和速度的快慢。 
3. 對(duì)數(shù)字芯片而言，僅知道有高低電平的輸出變化，但無(wú)法查出它的上升和下降沿的變化速度。 
4. 對(duì)于模擬芯片，它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布，解決信號(hào)方案的不同的影響，是錯(cuò)綜復(fù)雜的。就目前的在線測(cè)試技術(shù)，要解決模擬芯片在線測(cè)試是不可能的。所以，這項(xiàng)功能測(cè)試的結(jié)果，僅能供參考。 
5. 大多數(shù)的在線測(cè)試議，在對(duì)于電路板上的各類芯片進(jìn)行功能測(cè)試后，均會(huì)給出“測(cè)試通過(guò)”或“測(cè)試不通過(guò)”。那么它為什么不給出被測(cè)器件是否有問(wèn)題呢？這就是這類測(cè)試儀的缺撼。因?yàn)樵诰€測(cè)試時(shí)，所受影響（干擾）的因素太多。要求在測(cè)試前采取不少的措施（如斷開晶振，去掉CPU和帶程序的芯片，加隔離中斷信號(hào)等等），這樣做是否均有效，值得研究。至少，目前的測(cè)試結(jié)果有時(shí)不盡人意。 
6. 了解在線測(cè)試儀的讀者，均知道有這么一句行話?！霸诰€測(cè)試時(shí)不通過(guò)的芯片不一定是損壞的；測(cè)試通過(guò)的芯片一定是沒(méi)有損壞的。”它的解釋為，如器件受在線影響或抗干擾時(shí)，結(jié)果可能不通過(guò)，對(duì)此不難理解。那么，是否損壞的芯片在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，均會(huì)得出“不通過(guò)”呢？回答確實(shí)不能肯定。筆者與同行均遇到過(guò)，明明芯片已損壞了（確切地說(shuō)換上這個(gè)芯片板子就不工作了），但測(cè)試結(jié)果是通過(guò)的。權(quán)威解釋為這是測(cè)試儀自身工作原理（后驅(qū)動(dòng)技術(shù)）所致。故此我們不能過(guò)分依賴在線測(cè)試儀（盡管各廠家宣傳的很玄）的作用，否則將使維修電路板的工作誤入歧途。 
維修技巧之二  
    在無(wú)任何原理圖狀況下要對(duì)一塊比較陌生的電路板進(jìn)行維修，以往的所謂“經(jīng)驗(yàn)”就難有作為，盡管硬件功底深厚的人對(duì)維修充滿信心，但如果方法不當(dāng)，工作起來(lái)照樣事倍功半。那么，怎樣做才能提高維修效呢？根據(jù)我公司進(jìn)口設(shè)備維修中心統(tǒng)計(jì)出來(lái)的資料，應(yīng)遵循以下幾個(gè)步驟、按順序有條不紊的進(jìn)行。 
方法一：先看后量 
使用工具：萬(wàn)用表、放大鏡 
當(dāng)手拿一塊待修的電路板，良好的習(xí)慣首先是應(yīng)對(duì)其進(jìn)行目測(cè)，必要時(shí)還要借助放大鏡，看什么呢？ 
主要看： 
1、是否有斷線； 
2、分力元件如電阻、電解電容、電感、二極管、三極管等時(shí)候存在斷開現(xiàn)象； 
3、電路板上的印制板連接線是否存在斷裂、粘連等； 
4、是否有人修過(guò)？動(dòng)過(guò)哪些元器件？是否存在虛焊、漏焊、插反等操作方面的失誤； 
在確定了被修無(wú)上述狀況后，首先用萬(wàn)用表測(cè)量電路板電源和地之間的阻值，通常電路板的阻值都在70-80？以上，若阻值太小，才幾個(gè)或十幾個(gè)歐姆，說(shuō)明電路板上有元器件被擊穿或部分擊穿，就必須采取措施將被擊穿的元器件找出來(lái)。具體辦法是給被修板供電，用手去摸電路板上各器件的 
溫度，燙手的講師重點(diǎn)懷疑對(duì)象。若阻值正常，用萬(wàn)用表測(cè)量板上的阻、二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、撥段開關(guān)等分力元件，其目的就是首先要確保測(cè)量過(guò)的元件是正常的，我們的理由是，能用萬(wàn)用表解決的問(wèn)題，就不要把它復(fù)雜化。 
方法二：先外后內(nèi) 
使用工具：電路在線維修儀 
如果情況允許，是找一塊與被維修板一樣的好板作為參照，然后使用一起的雙棒VI曲線掃描功能對(duì)兩塊板進(jìn)行好、壞對(duì)比測(cè)試，起始的對(duì)比點(diǎn)可以從端口開始，然后由表及里，尤其是對(duì)電容的對(duì)比測(cè)試，可以彌補(bǔ)萬(wàn)用表在線難以測(cè)出是否漏電的缺憾。 
方法三：先易后難 
使用工具：電路在線維修儀、電烙鐵、記號(hào)筆 
為提高測(cè)試效果，在對(duì)電路板進(jìn)行在線功能測(cè)試前，應(yīng)對(duì)被修板做一些技術(shù)處理，以盡量削弱各種干擾對(duì)測(cè)試進(jìn)程帶來(lái)的負(fù)面影響。具體措施是： 
1、測(cè)試前的準(zhǔn)備 
將晶振短路,對(duì)大的電解電容要焊下一條腳使其開路，因?yàn)殡娙莸某浞烹娡瑯右材軒?lái)干擾。 
2、采用排除法對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試 
對(duì)器件進(jìn)行在線測(cè)試或比較過(guò)程中，凡是測(cè)試通過(guò)（或比較正常）的器件，請(qǐng)直接確認(rèn)測(cè)試結(jié)果，以便記錄；對(duì)測(cè)試未通過(guò)（或比較超差）的，可再測(cè)試一遍，若還是未通過(guò)，也可先確認(rèn)測(cè)試結(jié)果，就這樣一直測(cè)試下去，直到將板上的器件測(cè)試（或比較）完，然后再回過(guò)頭來(lái)處理那些未通過(guò)測(cè)試（或比較超差）的器件。對(duì)未通過(guò)功能在線測(cè)試的器件，儀器還提供了一種不太卻又比較實(shí)用的處理方法，由于儀器對(duì)電路板的供電可以通過(guò)測(cè)試夾施加到器件相應(yīng)的電源與地腳，若對(duì)器件的電源腳實(shí)施刃割，則這個(gè)器件將脫離電路板供電系統(tǒng)，這時(shí)再對(duì)該器件進(jìn)行在線功能測(cè)試，由于電路板上的其他器件將不會(huì)再起干擾作用，實(shí)際測(cè)試效果等同于“準(zhǔn)離線”，測(cè)準(zhǔn)率將獲得很大提高。 
3、用ASA-VI曲線掃描測(cè)試對(duì)測(cè)試庫(kù)尚未涵蓋的器件進(jìn)行比較測(cè)試 
由于ASA-VI智能曲線掃描技術(shù)能適用于對(duì)任何器件的比較測(cè)試，只要測(cè)試夾能將器件夾住，再有一塊參照板，通過(guò)對(duì)比測(cè)試，同樣對(duì)器件具備較強(qiáng)的故障偵測(cè)能力。該功能彌補(bǔ)了器件在線功能測(cè)試要受制于測(cè)試庫(kù)的不足，拓展了儀器對(duì)電路板故障的偵測(cè)范圍?，F(xiàn)實(shí)中往往會(huì)出現(xiàn)無(wú)法找到好板做參照的情景，而且待修板本身的電路結(jié)構(gòu)也無(wú)任何對(duì)稱性，在這種情況下，ASA-VI曲線掃描比較測(cè)試功能起不了作用，而在線功能測(cè)試由于器件測(cè)試庫(kù)的不完全，無(wú)法完成對(duì)電路板上每一個(gè)器件都測(cè)試一遍，電路板依然無(wú)法修復(fù)，這兒就是電路在線維修儀的局限，就跟沒(méi)有包治百病的藥一樣。 
方法四：先靜后動(dòng) 
由于電路在線維修儀目前只能對(duì)電路板上的器件進(jìn)行功能在線測(cè)試和靜態(tài)特征分析，是否完全修好必須要經(jīng)過(guò)整機(jī)測(cè)試檢驗(yàn)，因此，在檢驗(yàn)時(shí)先檢查一下設(shè)備的電源是否按要求正確供給到電路板上。 
 
維修技巧之三  
 
用萬(wàn)能表檢測(cè)電路板 
1.離線檢測(cè) 
  測(cè)出IC芯片各引腳對(duì)地之間的正,反電阻值.以此與好的IC芯片 
進(jìn)行比較,從而找到故障點(diǎn). 
2.在線檢測(cè) 
  1)直流電阻的檢測(cè)法 
    同離線檢測(cè).但要注意: 
    (a)要斷開待測(cè)電路板上的電源; 
    (b)萬(wàn)能表內(nèi)部電壓不得大于6V; 
    (c)測(cè)量時(shí),要注意外圍的影響.如與IC芯片相連的電位器等. 
  2)直流工作電壓的測(cè)量法 
    測(cè)得IC芯片各腳直流電壓與正常值相比即可.但也要注意： 
    (a)萬(wàn)能表要有足夠大的內(nèi)阻,數(shù)字表為; 
    (b)各電位器旋到中間位置; 
    (c)表筆或探頭要采取防滑措施,可用自行車氣門芯套在筆頭上, 
       并應(yīng)長(zhǎng)出筆尖約5mm; 
    (d)當(dāng)測(cè)量值與正常值不相符時(shí),應(yīng)根據(jù)該引腳電壓,對(duì)IC芯片正 
       常值有無(wú)影響以及其它引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析; 
    (e)IC芯片引腳電壓會(huì)受外圍元器件的影響.當(dāng)外圍有漏電,短路, 
       開路或變質(zhì)等; 
    (f)IC芯片部分引腳異常時(shí),則從偏離大的入手.先查外圍元器件, 
       若無(wú)故障,則IC芯片損壞; 
    (g)對(duì)工作時(shí)有動(dòng)態(tài)信號(hào)的電路板,有無(wú)信號(hào)IC芯片引腳電壓是不 
       同的.但若變化不正常則IC芯片可能已壞; 
    (h)對(duì)多種工作方式的設(shè)備,在不同工作方式時(shí)IC腳的電壓是不同 
       的. 
  3)交流工作電壓測(cè)試法 
    用帶有dB檔的萬(wàn)能表,對(duì)IC進(jìn)行交流電壓近似值的測(cè)量.若沒(méi)有dB 
    檔,則可在正表筆串入一只0.1-0.5μF隔離直流電容.該方法適用 
    于工作頻率比較低的IC.但要注意這些信號(hào)將受固有頻率,波形不 
    同而不同.所以所測(cè)數(shù)據(jù)為近似值,僅供參考. 
  4)總電流測(cè)量法 
    通過(guò)測(cè)IC電源的總電流,來(lái)判別IC的好壞.由于IC內(nèi)部大多數(shù)為直 
    流耦合,IC損壞時(shí)(如PN結(jié)擊穿或開路)會(huì)引起后級(jí)飽和與截止,使 
    總電流發(fā)生變化.所以測(cè)總電流可判斷IC的好壞.在線測(cè)得回路電 
    阻上的電壓,即可算出電流值來(lái). 
以上檢測(cè)方法,各有利弊.在實(shí)際應(yīng)用中將這些方法結(jié)合來(lái)運(yùn)用.運(yùn)用好了 
就能維修好各種電路板。