1.1技術(shù)原理
試樣中被測元素的原子受到來自于X射線管的一次X射線激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定能量的X 射線二次熒光，利用高性能（能量分辨率<160eV）的X 射線硅漂移SDD檢測器探測試樣中被測元素所發(fā)出的各種能量的特征X 射線，根據(jù)檢測器輸出信號的能量高低（波長）和強度來對被測元素進行定性和定量分析。
1.2 儀器性能
1.2.1可在大氣中現(xiàn)場快速無損的（2秒顯示牌號和實驗室級的分析結(jié)果/額外增加10秒可分析Mg，Al，Si，P，S）分析檢測并鑒別出各種不銹鋼，低合金鋼，有色合金，金屬等材質(zhì)中的常量和微量元素含量，檢出限可達幾個ppm, 并可根據(jù)用戶需要進行擴展，以滿足粉末，礦石，土壤等不同樣品更多的分析測試要求，測量元素可達41種。
1.2.2設(shè)備體積小，重量輕，分析精度高，一體化程度高，可靠性極佳，集多種應(yīng)用于一體，特別適用于高精度材料成分快速檢測。
1.2.3配有最先進的Peltier電制冷硅漂移SDD（Sillicon Draft detector）計數(shù)器, 數(shù)據(jù)處理能力10倍于PIN二極管檢測器，可有效防止計數(shù)溢出造成的漏計。SDD技術(shù)顯著減少分析所占用的X射線開啟時間，在同樣的儀器使用條件下可以測試更多的樣品，有效提升工作效率。
1.2.4 采用復(fù)合濾光片 (多金屬復(fù)合材料) 設(shè)計, 顯著減少了由于更換濾波片造成的分析時間的浪費（最高縮短5倍時間），采用不同的激發(fā)條件保證對元素周期表中Mg – Th 的所有元素均有理想的激發(fā)效果，減少了操作時間，大幅度降低X射線對操作人員造成傷害的可能性, 是真正意義上的安全的快速無損現(xiàn)場檢測設(shè)備。
1.2.5 配置FP快速定性, 半定量 (定量) 程序?？蓪θ魏瓮耆粗臉悠愤M行‘解剖’分析。與其他同類儀器相比，FP更為接近(符合)實際，在此程序中采用了數(shù)千種國際標(biāo)準(zhǔn)樣品，實測結(jié)果并予以固化。
1.2.6 采用人機功效學(xué)原理，一體化的ePC可以完成諸如：儀器控制，測試操作，自動識別，背底扣減，譜峰重疊，堆砌峰/逃逸峰校正，定量計算等操作功能。儀器采用分級密碼，重要的數(shù)據(jù)得到保護。標(biāo)準(zhǔn)USB接口更方便數(shù)據(jù)傳出。
1.2.7 具備Interlock安全互鎖和硬體快門。如未檢測到測試樣品，快門互鎖裝置會于200毫秒內(nèi)自動關(guān)閉快門并同時切斷X射線，連鎖保護功能最大程度保護操作人員的人身安全；快門即為目前所有品牌中唯一內(nèi)置的ICAL自校準(zhǔn)樣品，自動校準(zhǔn)儀器，自動修正偏差，無需外置自校準(zhǔn)標(biāo)樣，保證分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。
1.2.8儀器在Windows CE操作系統(tǒng)上建立斯派克的分析軟件，操作極為方便。采用人機功效學(xué)原理，譜圖匯編，自動識別，背底扣減，譜峰重疊，堆砌峰/逃逸峰校正。定性、定量功能強大。儀器采用分級密碼，重要的數(shù)據(jù)得到保護。
1.2.9儀器具有多種校正模式(數(shù)學(xué)模型)(方法)，在定量分析中可充分應(yīng)用，以取得最佳的分析結(jié)果。方法包括: 基本參數(shù)法、盧卡斯經(jīng)驗系數(shù)法、質(zhì)量吸收系數(shù)法、基體匹配校正等等。
