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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
QFN16-0.5-3x3翻蓋彈片老化座MCUflash電源芯片可靠性耐久性測(cè)試
QFN16-0.5-3x3翻蓋彈片老化座MCUflash電源芯片可靠性耐久性測(cè)試
產(chǎn)品價(jià)格:¥68.00
上架日期:2023-09-18 20:51:27
產(chǎn)地:廣東深圳
發(fā)貨地:廣東深圳
供應(yīng)數(shù)量:不限
最少起訂:1
瀏覽量:83
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詳細(xì)說(shuō)明
    產(chǎn)品參數(shù)
    封裝/規(guī)格插件
    類(lèi)型DIP
    間距0.5
    總針腳數(shù)16 1
    圓孔/方孔圓孔
    觸頭鍍層
    工作溫度范圍-45~155℃
    包裝盒裝
    認(rèn)證機(jī)構(gòu)CE
    最小包裝量1
    數(shù)量1
    封裝QFN
    批號(hào)以出貨為準(zhǔn)
    品牌HMILU
    型號(hào)QFN16-0.5 3*3翻蓋彈片老化座(帶頂針)

    QFN16-0.5-3*3翻蓋測(cè)試座
    1.引腳:16 signal Pin 1 GND;
    2.間距:0.5mm
    3.尺寸:3*3mm
    4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
    5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
    6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV(initial)
    7.Temperature:-45~155℃
    8.Current Rating:1A Max.







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