.jpg "SuperViewW1白光干涉儀精密測(cè)量表面三維形貌")
| 產(chǎn)品參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 中圖儀器 CHOTEST | ||
| 加工定制 | 否 | ||
| 測(cè)量范圍 | 320×200㎜ | ||
| 主機(jī)尺寸 | 900×700×604㎜ | ||
| 數(shù)量 | 10 | ||
| Z軸行程 | 100mm，電動(dòng) | ||
| Z向掃描范圍 | 10mm | ||
| Z向分辨率 | 0.01nm | ||
| 可測(cè)樣品反射率 | 0.05-100 | ||
| 粗糙度RMS重復(fù)性 | 0.005nm | ||
| 臺(tái)階高測(cè)量 | 準(zhǔn)確度0.3，重復(fù)性0.08 1σ | ||
| 主要特點(diǎn) | 非接觸式無(wú)損檢測(cè)，一鍵分析、快速高效 | ||
| 工作溫度 | 15℃~30℃，溫度梯度＜2℃/60分鐘 | ||
| 可售賣地 | 全國(guó) | ||
| 用途 | 微納米三維形貌一鍵測(cè)量 | ||
| 型號(hào) | SuperViewW1 | ||
.jpg)
.jpg)
.jpg)
.jpg)
.jpg)
