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產(chǎn)品簡介
晶圓粗糙度表面形貌測量系統(tǒng)WD4000國產(chǎn)半導體檢測設(shè)備
晶圓粗糙度表面形貌測量系統(tǒng)WD4000國產(chǎn)半導體檢測設(shè)備
產(chǎn)品價格:¥3000000.00
上架日期:2024-09-25 01:49:23
產(chǎn)地:廣東深圳
發(fā)貨地:廣東深圳
供應數(shù)量:不限
最少起訂:1
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詳細說明
    產(chǎn)品參數(shù)
    是否支持加工定制
    是否進口
    操作方式全自動
    型號WD4000系列
    測量系統(tǒng)1厚度和翹曲度測量系統(tǒng)
    測量系統(tǒng)2三維顯微形貌測量系統(tǒng)
    測量系統(tǒng)3膜厚測量系統(tǒng)
    測量系統(tǒng)4紅外干涉測量系統(tǒng)
    晶圓尺寸4" 、6" 、8" 、 12"
    晶圓載臺防靜電鏤空真空吸盤載臺
    最大移動速度500mm/s
    工作臺主體大理石
    隔振臺被動式隔振氣浮墊
    外形尺寸1500×1500×2000mm
    總重量1500kg
    氣源要求0.6MPa; 60L/min
    品牌中圖儀器 CHOTEST











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