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產品簡介
國產白光干涉微觀形貌測量儀高精度納米級幾何尺寸檢測
國產白光干涉微觀形貌測量儀高精度納米級幾何尺寸檢測
產品價格：￥960000.00
上架日期：2024-09-25 01:49:40
產地：廣東深圳
發(fā)貨地：廣東深圳
供應數量：不限
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詳細說明
    產品參數
    是否支持加工定制否
    是否進口否
    工作溫度15℃~30℃
    光源白光LED
    型號SuperViewW1
    XY平臺負載10kg
    XY平臺控制方式電動
    Z軸聚焦行程100㎜
    Z向掃描范圍10㎜
    臺階測量可
    儀器主機重量＜160㎏
    主機尺寸700×606×920㎜
    工作濕度5％-95％RH
    無凝露
    功率300W
    影像系統(tǒng)1024×1024
    XY移動140×100㎜
    品牌中圖儀器 CHOTEST










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