產(chǎn)品參數(shù) | |||
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品牌 | ANDK | ||
包裝 | 盒裝 | ||
零件狀態(tài) | 在售 | ||
安裝類型 | 卡入式 | ||
特性 | MCU BGA324功能測試 | ||
材料 | PEEK BeCu AL | ||
其他集成電路 | 324 | ||
產(chǎn)地 | 中國大陸 | ||
適用場景 | 對BGA芯片進(jìn)行性能測試,老化,篩選測試 | ||
封裝 | BGA封裝 | ||
引腳數(shù) | 324個 | ||
測試座類型 | 翻蓋式 | ||
引腳間距 | 1.0mm | ||
芯片間距 | 1.0 | ||
數(shù)量 | 1 | ||
批號 | 以出貨為準(zhǔn) | ||
可售賣地 | 全國 | ||
型號 | BGA324-1.0翻蓋探針測試座帶散熱塊 |