| 產(chǎn)品參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 德萊 | ||
| 行業(yè) | 電子 | ||
| 服務(wù)內(nèi)容 | CE認(rèn)證 | ||
| 檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)名 | 德萊檢測(cè) | ||
| 資質(zhì) | CNAS | ||
| 美國(guó)認(rèn)證 | FCC認(rèn)證 | ||
| 中國(guó)認(rèn)證 | CQC認(rèn)證 | ||
| 環(huán)保測(cè)試 | ROHS認(rèn)證 | ||
| 現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 | EMC | ||
| 美國(guó) | UL | ||
| 電池證書(shū) | UN38.3 | ||
| 中國(guó) | 質(zhì)檢報(bào)告 | ||
| 可售賣(mài)地 | 全國(guó) | ||
ESD的測(cè)試方法類(lèi)似FAB里面的GOI測(cè)試，pin之后先給他一個(gè)ESD電壓，持續(xù)一段時(shí)間后，然后再回來(lái)測(cè)試電性看看是否損壞，沒(méi)問(wèn)題再去加一個(gè)step的ESD電壓再持續(xù)一段時(shí)間，再測(cè)電性，如此反復(fù)直至擊穿，此時(shí)的擊穿電壓為ESD擊穿的臨界電壓(ESD failure threshold Voltage)。通常我們都是給電路打三次電壓(3 zaps)，為了降低測(cè)試周期，通常起始電壓用標(biāo)準(zhǔn)電壓的70 ESD threshold，每個(gè)step可以根據(jù)需要自己調(diào)整50V或者100V。
我們?nèi)绾闻袛郋MS試驗(yàn)結(jié)果的好壞呢？
對(duì)于 EMS（電磁敏感性）試驗(yàn)，其性能判斷依據(jù)可分為四個(gè)等級(jí)：
A 級(jí)：試驗(yàn)中性能指標(biāo)正常；
B 級(jí)：試驗(yàn)中性能暫時(shí)降低，功能不喪失，試驗(yàn)后能自行恢復(fù)；
C 級(jí)：功能允許喪失，但能自恢復(fù)，或操作者干預(yù)后能恢復(fù)；
R 級(jí)：除保護(hù)元件外，不允許出現(xiàn)因設(shè)備（元件）或軟件損壞或數(shù)據(jù)丟失而造成不能恢復(fù)的功能喪失或性能降低。
電磁兼容（Electro Magnetic Compatibility，簡(jiǎn)稱(chēng) EMC）是電工、電子產(chǎn)品重要的一項(xiàng)質(zhì)量指標(biāo)?？梢哉J(rèn)為產(chǎn)品質(zhì)量主要由質(zhì)量規(guī)范與技術(shù)指標(biāo)兩大內(nèi)容構(gòu)成。前者涉及通用規(guī)范，即國(guó)際上 IEC，國(guó)內(nèi)由國(guó)家制訂的基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn)；后者是產(chǎn)品功能的規(guī)定及其技術(shù)要求。電磁兼容與安全要求是基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn)?，F(xiàn)在 EMC 已從基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)、通用標(biāo)準(zhǔn)、族標(biāo)準(zhǔn)、一直到產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，形成完備的體系。
靜電放電測(cè)試（ESD試驗(yàn)）到底有多重要？
ESD 是一種常見(jiàn)的近場(chǎng)危害源，可形成高電壓，強(qiáng)電場(chǎng)，瞬時(shí)大電流，并伴有強(qiáng)電磁輻射，形成靜電放電電磁脈沖，容易造成電子設(shè)備的損壞。
試驗(yàn)的目的主要是模擬交換機(jī)在實(shí)際使用過(guò)程中，遭遇 ESD靜電放電時(shí)，功能和性能的真實(shí)情況。對(duì)于 IEC標(biāo)準(zhǔn)，接觸放電測(cè)試是方式，但在實(shí)際的工作環(huán)境，空氣放電也較為常見(jiàn)，因此一般的試驗(yàn)，兩種測(cè)試方式都會(huì)同時(shí)做。
