| 產(chǎn)品參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 德萊 | ||
| 行業(yè) | 電子 | ||
| 服務(wù)內(nèi)容 | CE認(rèn)證 | ||
| 檢測認(rèn)證機(jī)構(gòu)名 | 德萊檢測 | ||
| 資質(zhì) | CNAS | ||
| 美國認(rèn)證 | FCC認(rèn)證 | ||
| 中國認(rèn)證 | CQC認(rèn)證 | ||
| 環(huán)保測試 | ROHS認(rèn)證 | ||
| 現(xiàn)場測試 | EMC | ||
| 美國 | UL | ||
| 電池證書 | UN38.3 | ||
| 中國 | 質(zhì)檢報(bào)告 | ||
| 可售賣地 | 全國 | ||
為什么說絕大部分用電設(shè)備的損壞都與浪涌有關(guān)？
浪涌包括浪涌電壓和浪涌電流，即電壓或電流瞬間出現(xiàn)超出穩(wěn)定值的峰值。產(chǎn)生浪涌的主要原因有兩個(gè)：電力系統(tǒng)的開關(guān)瞬間和雷電產(chǎn)生瞬間。
對(duì)于處在雷電頻繁地區(qū)的項(xiàng)目，雷雨天氣是難熬的時(shí)候，即使不直接擊中，雷電通常能夠產(chǎn)生強(qiáng)大的電壓和脈沖電流，給設(shè)備帶來致命的沖擊，甚至造成性的破壞。
浪涌試驗(yàn)的目的便是測試電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌時(shí)的性能狀況，不同的設(shè)備和測試部位，測試方式與角度不盡相同，
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ESD的測試方法類似FAB里面的GOI測試，pin之后先給他一個(gè)ESD電壓，持續(xù)一段時(shí)間后，然后再回來測試電性看看是否損壞，沒問題再去加一個(gè)step的ESD電壓再持續(xù)一段時(shí)間，再測電性，如此反復(fù)直至擊穿，此時(shí)的擊穿電壓為ESD擊穿的臨界電壓(ESD failure threshold Voltage)。通常我們都是給電路打三次電壓(3 zaps)，為了降低測試周期，通常起始電壓用標(biāo)準(zhǔn)電壓的70 ESD threshold，每個(gè)step可以根據(jù)需要自己調(diào)整50V或者100V。
國際上還有為此專門立法。如歐洲聯(lián)盟已制訂法規(guī)，規(guī)定從 1996 年 1 月 1 日起，電工、電子產(chǎn)品必須取得低壓管理（LVDirecTIve）與電磁兼容管理（EMCDirecTIve）合格認(rèn)定后，才能在市場上銷售。這些年來不斷有新的 EMC 標(biāo)準(zhǔn)在國內(nèi)正式發(fā)布。但要指出的是，IEC 有關(guān) EMC 標(biāo)準(zhǔn)將不斷從草案或舊版本上升為正式版本，國家有關(guān) EMC 標(biāo)準(zhǔn)也將不斷更新、發(fā)布，有關(guān) EMC 測試應(yīng)以新版本為準(zhǔn)。
靜電放電測試（ESD試驗(yàn)）到底有多重要？
ESD 是一種常見的近場危害源，可形成高電壓，強(qiáng)電場，瞬時(shí)大電流，并伴有強(qiáng)電磁輻射，形成靜電放電電磁脈沖，容易造成電子設(shè)備的損壞。
試驗(yàn)的目的主要是模擬交換機(jī)在實(shí)際使用過程中，遭遇 ESD靜電放電時(shí)，功能和性能的真實(shí)情況。對(duì)于 IEC標(biāo)準(zhǔn)，接觸放電測試是方式，但在實(shí)際的工作環(huán)境，空氣放電也較為常見，因此一般的試驗(yàn)，兩種測試方式都會(huì)同時(shí)做。
