特點
全新的自動模式可根據(jù)被測物體的輝度調(diào)整測量速度。以某些測量速度測量時可能無法獲取必要的精確度，尤其是在低輝度情況下。全新的自動模式
將自動選擇最佳的測量速度以提供CS-200的最優(yōu)性能，從而更加輕松地獲取較高的測量精確度。
主要用途
CS-200可以用于測量各種光學設備（如LCD、PDP、有機EL和FED）以及光源（如LED和燈）的輝度和色度。
測量范圍及技術(shù)參數(shù)：
測量范圍 0.01 - 200,000 cd/m2（測量角度1°）
0.01 - 5,000,000 cd/m2（測量角度0.2°）
0.01 - 20,000,000 cd/m2（測量角度0.1°）
準確度
（測量角度1°） #1
（溫度：23°C±2°C，相對濕度：65%） 150 cd/m2（對于光源A）：Lv ±2 % ±1位；xy ±0.002
0.01-0.5 cd/m2（對于光源A）：Lv ±0.02cd/m2 ±1位；---
0.5-1 cd/m2（對于光源A）：Lv ±0.02 cd/m2 ±1位；xy ±0.007
1-10 cd/m2（對于光源A）：Lv ±2 % ±1位；xy ±0.004
10-200,000 cd/m2（對于光源A）：Lv ±2 % ±1位；xy ±0.003
5000 cd/m2（對于光源A）：濾色器（R, G, B）；xy ±0.006
重復性
（測量角度1°） #2 0.01-1 cd/m2（對于光源A）：Lv ±0.01 cd/m2 ±位；---（2σ/自動）
1-2 cd/m2（對于光源A）：Lv ±0.5 % ±1位；xy ±0.002（2σ/自動）
2-4 cd/m2（對于光源A）：Lv ±0.5 % ±1位；xy 0.001（4σ/自動）
2-8 cd/m2（對于光源A）：Lv ±0.5 % ±1位；xy 0.0005（8σ/自動）
2-200,000 cd/m2（對于光源A）：Lv ±0.1% ±1位；xy 0.0004（2σ/自動）
測量時間 在1秒和60秒間自動設置（自動）；自動設置為1秒或3秒（有限自動）
主要特征
• 測量范圍廣，覆蓋低輝度和高輝度。
• 性能堪比多款分光輻射度計
• 機身緊湊輕巧。另可通過電池供電。
• 測量角度可選
• 提供數(shù)據(jù)管理軟件CS-S10w標準版本和可選的專業(yè)版本。
• 其它功能
篤摯儀器主營關(guān)節(jié)臂,粗糙度儀,輪廓儀,圓度儀,圓柱度儀,淬火硬化層深無損測量儀,滲碳層測厚儀,滲氮層深度無損檢測儀,清潔度檢測系統(tǒng),內(nèi)窺鏡,投影儀,影像儀,光譜儀,測高儀,測長儀,齒輪嚙合儀,齒輪測量中心,探傷儀,測厚儀,硬度計,熱像儀等精密儀器。
