（高溫運(yùn)行、高溫貯存）的目的是確定軍民用設(shè)備、零部件在常溫條件下儲(chǔ)存和工作的儲(chǔ)存、使用的適應(yīng)性及耐久性。確認(rèn)材料高溫下的性能。
為能正確觀察與驗(yàn)證產(chǎn)品在高溫環(huán)境下之熱效應(yīng)，同時(shí)避免因濕度效應(yīng)影響試驗(yàn)結(jié)果，標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測(cè)、樣品安裝、中間檢測(cè)、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測(cè)物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。
高溫條件下試件的失效模式 產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時(shí)可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。
高溫環(huán)境對(duì)設(shè)備的主要影響有：
a. 填充物和密封條軟化或融化；
b. 潤(rùn)滑劑粘度降低，揮發(fā)加快，潤(rùn)滑作用減?。?/span>
c. 電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞；
d. 加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開(kāi)裂、化學(xué)反應(yīng)等；
e. 材料膨脹造成機(jī)械應(yīng)力增大或磨損增大。
參考標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60068-2-2:2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》
GJB128A-97 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
GJB4.2-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 高溫試驗(yàn)》
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法108高溫壽命試驗(yàn)
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》
GJB548A-96 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
MIL-STD-883D 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
SJ/T 10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.1 高溫負(fù)荷試驗(yàn)
SJ/T 10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.2 高溫貯存試驗(yàn)
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
QC/T 413-2002《汽車電氣設(shè)備基本技術(shù)條件》
YD/T 1591-2009《移動(dòng)通信手持機(jī)充電器及接口技術(shù)要求和測(cè)試方法》
深圳市賽特檢測(cè)有限公司（簡(jiǎn)稱STT）是國(guó)內(nèi)較早開(kāi)展環(huán)境可靠性工程檢測(cè)技術(shù)的研究與應(yīng)用的專業(yè)第三方檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)，經(jīng)過(guò)十?dāng)?shù)年的發(fā)展，已成為集環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、包裝運(yùn)輸測(cè)試、材料測(cè)試、電磁兼容測(cè)試、安規(guī)、失效分析、理化檢測(cè)等項(xiàng)目為一體的綜合性檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)?，F(xiàn)有規(guī)模、測(cè)試能力和水平處于國(guó)內(nèi)檢測(cè)機(jī)構(gòu)的領(lǐng)先水平，并培養(yǎng)出一批高素質(zhì)檢測(cè)工程師人員，積累了豐富的檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)。
STT實(shí)驗(yàn)室作為一個(gè)公正性的第三方檢測(cè)單位，其運(yùn)行資質(zhì)一直是STT及廣大客戶關(guān)注的重點(diǎn)，為此STT先后通過(guò)了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IECQ國(guó)際電工委員會(huì)電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系對(duì)ISO/IEC 17025實(shí)驗(yàn)室運(yùn)行資質(zhì)的審核，及ISTA 國(guó)際安全運(yùn)輸協(xié)會(huì)的認(rèn)可和CNAS中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)的認(rèn)可
