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產(chǎn)品簡介
Couloscope CMS2 STEP電位差測厚儀
Couloscope CMS2 STEP電位差測厚儀
產(chǎn)品價格:¥0
上架日期:2017-07-03 10:19:03
產(chǎn)地:德國
發(fā)貨地:上海
供應(yīng)數(shù)量:不限
最少起訂:1臺
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詳細說明

    Couloscope CMS2 STEP電位差測厚儀


    廣泛應(yīng)用的標準支架V18和專用支架V27用于測量導(dǎo)線上涂層的厚度

    COULOSCOPE CMS STEP 雙層鎳鍍層測量版本
    Couloscope CMS2 STEP 電解測厚儀
    4種不同類型的測量臺適合于測量各種種類的被測物體。

    Couloscope CMS2 STEP 庫侖測電位差測厚儀

    PCB涂層厚度測量設(shè)計用于測量任何金屬涂層的厚度,如任何基材上的多層。 該器件通過陽極溶解(DIN EN ISO 2177)根據(jù)庫侖法進行工作。 易于操作和菜單支持的操作員方向使得該設(shè)備非常適用于電鍍領(lǐng)域的生產(chǎn)監(jiān)控和端部檢測。
    該機器具有近100種預(yù)定義的應(yīng)用,用于測量不同的涂層系統(tǒng)(例如鐵上的鋅,黃銅上的鎳)和去鍍速度(例如1,2,5和10m / min)。 這也可以組合起來用于測試多層系統(tǒng)。
    強大和用戶友好的PCB涂層厚度測量計是生產(chǎn)監(jiān)控和進入檢測的理想選擇。

    典型應(yīng)用:
    電鍍緊固件
    測試印刷電路板上殘留的純錫含量
    鍍鉻浴室配件
    測量常見的單相以及雙相涂層,如鐵上的ZN或銅上的SN / NI
    金屬涂層的精確測量厚度品種為0.05 - 50m,不需要預(yù)先設(shè)置幾種材料; 基底組成以及幾何形狀也與測量過程無關(guān)
    測量印刷電路板上純錫的剩余部分,以確保可焊性
    多層涂層,如鐵/塑料(abs)基板上的CR / NI / CU


    Couloscope CMS2 STEP電位差測厚儀

    使用5 x 5個單獨測量的測試區(qū)域校準測量系統(tǒng)的標準

    作為測量鍍層厚度最簡單的方法之一,庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結(jié)構(gòu), 當(dāng)允許破壞性測 量時,它提供了一個比 X 射線更經(jīng)濟的替代方法。 

    很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了精確的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi), 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定;基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關(guān)緊要的。 
     
    最常見的應(yīng)用之一就是測量線路板上剩余的純錫,以確 ??珊感?。多鍍層例如 Cr/ Ni/Cu 在鐵或者塑料(ABS) 基材上,經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品,也可以用這個 方法進行測量


    COULOSCOPE CMS基本配置:
    儀器:            Couloscope CMS
    測量臺:          V24、V26、V18 等
    電解液:          F1 ~ F22
    COULOSCOPE CMS特征:
    標準:DIN EN ISO 2177 ; ASTM B504
    模擬輸出: 0 ~ -18V
    輸入阻抗: > 2 KΩ
    工作溫度: 10 ℃ ~ 40 ℃
    儀器重量: 6 kg 
    電源: AC 220 V ,50-60 Hz;最大功耗 ≤ 85 VA
    尺寸: 350W * 140H * 200D  mm


    Couloscope CMS2 STEP電位差測厚儀

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