本低壓熔斷器觸頭性能測試臺(tái)完全滿足最新國家標(biāo)準(zhǔn)IEC60269-1:2009、GB13539.1-2015(低壓熔斷器第1部分:基本要求) 標(biāo)準(zhǔn)中第8.10章節(jié)“觸頭不變壞驗(yàn)證”的試驗(yàn)要求,用于模擬熔斷器在嚴(yán)酷使用條件下,驗(yàn)證長期運(yùn)行中不受擾動(dòng)的觸頭性能損壞情況。
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