德國菲希爾 Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀代理
Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀—原理
作為測量鍍層厚度最簡單的方法之一，庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結(jié)構(gòu)， 當(dāng)允許破壞性測 量時，它提供了一個比 X 射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。 很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了精確的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi)， 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定；基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關(guān)緊要的。
測量槽------可比作微型電解缸------被用來剝離鍍層。 測量 面積由裝在測量槽上的墊圈尺寸來決定。對不同的金屬 采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程。 電解過程由 COULSCOPE 儀器的電子部分控制， 用一 個泵攪拌電解液來使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕，保證電 解液最佳利用。 根據(jù)測量區(qū)域的大小，各種直徑的墊圈 可供選擇。
CouloScope CMS2庫倫法測厚儀特點(diǎn)：
1）庫侖析法電解鍍層，符合 DIN EN ISO 2177標(biāo)準(zhǔn)
2）V18測量臺通過控制氣泵具有自動充填和清空測量槽中電解液功能
3）大幅液晶顯示屏便于操作和顯示測量結(jié)果
CouloScope CMS2庫倫法測厚儀典型應(yīng)用領(lǐng)域：
1）該設(shè)備幾乎可以測量金屬或非金屬基材上的任何一種金屬鍍層。 甚至可以測量多層鍍層.
測量原理 ：
這個系列儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)的庫侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件 下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過程。所載入的電 流與要剝離的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面 積保持不變，鍍層厚度與電解時間就是成正比的關(guān)系
庫侖法測厚儀，應(yīng)用于電鍍層的測厚。電解測厚儀可以解決裝飾鉻層測厚、鎳層測厚、銅層測厚、鋅層測厚、錫層測厚、銀層測厚、金層測厚、鎘、硬鉻、化學(xué)鎳、多層鎳等鍍層測厚問題。電解測厚儀具有測試多層復(fù)合測量模式等特點(diǎn)，適用于汽車摩托車、航空航天、自行車、電器、日用五金、潔具衛(wèi)浴、塑膠電鍍、釹-鐵-硼、標(biāo)準(zhǔn)件等行業(yè)及技術(shù)監(jiān)督部門及科研機(jī)構(gòu)。
