日置/HIOKI阻抗分析儀IM7585(1MHz~1.3GHz)
日置/HIOKI阻抗分析儀IM7585(1MHz~1.3GHz),可以測(cè)量比IM7580(最高300MHz的高頻測(cè)量)更高的頻率范圍。IM7585是1MHz~1.3GHz,可以滿足高頻化的各種電子元件產(chǎn)品。IM7585通過最短0.5ms(0.0005秒)的高速測(cè)量,能夠快速的檢查大量電子元件,從而提高電子元件廠商的生產(chǎn)效率。
一、主要用途:
1、電子元件生產(chǎn)廠家內(nèi)的電子元件的出貨檢查和特性評(píng)估
2、電子設(shè)備生產(chǎn)廠家內(nèi)的電子元件的驗(yàn)貨檢查和特性評(píng)估
3、高校研究所內(nèi)的電子元件的特性評(píng)估
二、與以往產(chǎn)品相比具備如下特點(diǎn):
1.IM7585最高1.3GHz的高頻測(cè)量:
(1)IM7585是1MHz~1.3GHz。這大大的高于IM7580的測(cè)量頻率(1MHz~300MHz)。
(2)單一頻率測(cè)量的LCR測(cè)試儀的模式的話,可用于判斷出貨檢查的合格與否,頻率變化同時(shí)進(jìn)行測(cè)量的阻抗分析儀的模式的話 ,產(chǎn)品開發(fā)的特性評(píng)估和其他領(lǐng)域中。
2.高速、高穩(wěn)定性測(cè)量,提高生產(chǎn)效率!測(cè)量時(shí)間:最快0.5ms,測(cè)量值偏差0.07%:
(1)最快0.5ms(0.0005秒)的高速測(cè)量。這樣,對(duì)于需要快速檢查大量電子元件的電子元件廠商來說可以大幅提高生產(chǎn)效率。
(2)IM7585的反復(fù)測(cè)量精度是0.07%(1GHz時(shí)的代表值),因此實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定測(cè)量,提高生產(chǎn)的成品率,從而提高生產(chǎn)效率。
3.主機(jī)尺寸小巧化,有助于降低生產(chǎn)成本:
在電子元件廠商的生產(chǎn)線中,各種設(shè)備安裝在機(jī)架中組成檢查系統(tǒng),并進(jìn)行自動(dòng)檢查。因此,和去年發(fā)售的IM7580相同通過將將主機(jī)大小小型化,縮小檢查系統(tǒng)的體積,并通過多臺(tái)組合能夠縮短檢查時(shí)間,并降低生產(chǎn)成本。
4.各種各樣的判斷功能,判斷合格與否:
(1)單一的頻率測(cè)量的LCR測(cè)試儀的模式的話,具備判斷電子元件的合格與否的比較器功能以及將電子元件排序的BIN功能。比較器功能可設(shè)置上下限值,并以此為判斷標(biāo)準(zhǔn)來判斷是否合格。相對(duì)于比較器功能的按照判斷標(biāo)準(zhǔn)判斷是否合格,BIN功能則能設(shè)置最多10種判斷標(biāo)準(zhǔn),并進(jìn)行排序。
(2)在多種頻率下測(cè)量的分析儀的模式的話,包括從電子元件的頻率特性中可判斷合格與否的區(qū)間判斷、峰值判斷。區(qū)間判斷是為了確認(rèn)測(cè)量值是否進(jìn)入任意設(shè)置的判斷區(qū)域內(nèi)的功能。峰值判斷是判斷諧振點(diǎn)的功能。
(3)全新搭載了任意設(shè)置多種頻率,并按照這個(gè)設(shè)置值判斷合格與否的目標(biāo)判斷功能。
5、豐富的接觸檢查功能(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定):
使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
三、基本參數(shù)(精度保證時(shí)間1年,調(diào)整后精度保證時(shí)間1年):
測(cè)量模式 | LCR(LCR測(cè)量),分析(掃頻測(cè)量),連續(xù)測(cè)量 |
---|---|
測(cè)量參數(shù) | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
精度保證范圍 | 100 mΩ~5 kΩ |
顯示范圍 |
Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
測(cè)量頻率 | 1 MHz~1.3 GHz (設(shè)置分辨率100kHz) |
測(cè)量信號(hào)電平 |
功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm 電壓 (V)模式: 4 mV~502 mVrms 電流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms |
輸出阻抗 | 50 Ω (10 MHz時(shí)) |
顯示 | 彩色TFT8.4英寸、觸屏 |
測(cè)量時(shí)間 | 最快0.5ms(FAST、模擬測(cè)量時(shí)間、代表值) |
功能 | 接觸檢查、比較器、BIN判定(分類功能)、面板讀取·保存、存儲(chǔ)功能、等效電路分析、相關(guān)補(bǔ)償 |
接口 |
EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN RS-232C (選件), GP-IB (選件) |
電源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
體積和重量 |
主機(jī): 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg 測(cè)試頭: 90W × 64H × 24D mm, 300 g |
附件 | 電源線 ×1, 測(cè)試頭 ×1, 連接線 ×1, 使用說明書 ×1, CD-R (通訊使用說明書) ×1 |
四、選件:
(1)測(cè)試治具:
(2)PC通訊:
本公司承各類電子儀器產(chǎn)品代理等服務(wù),如有需要可撥打優(yōu)惠熱線:
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