工業(yè)近景攝影測量系統(tǒng)便攜式三坐標(biāo)測量儀
工業(yè)近景攝影測量系統(tǒng)便攜式三坐標(biāo)測量儀是我司自主研發(fā)的光學(xué)三坐標(biāo)測量系統(tǒng)。系統(tǒng)采用高分辨率專用相機，通過在不同位置和方向獲取被測物體多幅數(shù)字圖像，經(jīng)系統(tǒng)對圖像處理、標(biāo)志點識別與定位、圖像匹配等得到被測物體關(guān)鍵點的三維坐標(biāo)。根據(jù)這些點的三維坐標(biāo)可對工件進行幾何尺寸檢測、變形測量、逆向工程分析等。系統(tǒng)常運用于大型工業(yè)產(chǎn)品、生產(chǎn)設(shè)備、實驗設(shè)施等對象的測量，具有精度高、非接觸（無機械行程限制）、速度快、便攜等優(yōu)點。
系統(tǒng)應(yīng)用范圍
逆向設(shè)計：快速獲取被測物體表面關(guān)鍵點三維數(shù)據(jù)，建立三維模型，利于產(chǎn)品快速設(shè)計優(yōu)化
產(chǎn)品檢測：產(chǎn)品質(zhì)量和形位尺寸檢測，特別適合復(fù)雜曲面
整體建模：配合激光掃描儀等進行整體建模
監(jiān)測評估：建筑、橋梁、塑雕、搭架等形貌監(jiān)測評估
系統(tǒng)可配合三維掃描儀系統(tǒng)提高整體拼接精度和效率。
系統(tǒng)特點
整體光束平差算法
多線程計算，效率更高
具備元素擬合功能：線、面、圓、球、矩形孔、圓柱、圓錐等
具備靜態(tài)變形分析功能
多種分析功能，點偏差、距離偏差、角度偏差等
測量精度0.1mm/4m，測量幅面從30mm~50m
配合XTOM可提高整體點云拼接精度
色譜圖直觀顯示變形量、測量及分析結(jié)果，生成報表
具備CAD數(shù)模對比功能
技術(shù)參數(shù)
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型號 |
XTDP-I |
XTDP-II |
XTDP-III |
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相機像素 |
2400萬 |
3600萬 |
2400萬 |
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測量范圍 |
0.3~30m |
0.3~50m |
0.3~30m |
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測量精度 |
0.025mm/m |
0.015mm/m |
0.025mm/m |
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標(biāo)志點 |
12位 |
15位/12位 |
15位/12位 |
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標(biāo)尺材質(zhì) |
碳纖維 |
碳纖維/因瓦合金 |
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精度驗證 |
VDI2634/1 |
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工業(yè)近景攝影測量系統(tǒng)便攜式三坐標(biāo)測量儀
