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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
連接器失效分析 電子元件失效分析 金相分析
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產(chǎn)品價(jià)格：￥
上架日期：2018-04-03 11:31:54
產(chǎn)地：本地
發(fā)貨地：本地至全國
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詳細(xì)說明

    公司名稱：深圳市賽特檢測(cè)有限公司（STT）

    聯(lián)系人：小吳

    聯(lián)系電話：18925271837（微信同號(hào)）

    扣扣號(hào)：3492539620

    扣扣郵箱：3492539620@qq.com

    公司地址：深圳市龍華區(qū)新湖路28號(hào)

    連接器失效分析

         適用產(chǎn)品：

    1．電子元器件包括元件(電阻、電容、繼電器、開關(guān)、連接器等)、分立器件(二極管、三極管、MOSFET等)、集成電路(小、中、大、超大規(guī)模集成電路等)、微波器件、模塊(電源模塊、功率模塊、頻率模塊等)、電路板及其組件。
    2．PCB板：金屬基板、柔性電路板、無鹵素基板
    3．PCBA：通孔焊接、SMT組裝、BGA組裝、MEMS

         檢測(cè)項(xiàng)目：

    1．電子電路產(chǎn)品的機(jī)械性能、熱學(xué)性能、電學(xué)性能、化學(xué)性能及可靠性分析
    2．電子電路產(chǎn)品長(zhǎng)期使用可靠性產(chǎn)品評(píng)測(cè)
    3．電子電路產(chǎn)品使用過程失效后從物理及化學(xué)角度進(jìn)行分析

        基本程序：

    1． 信息收集(失效前后的背景資料)
    2． 外觀檢查失效前后產(chǎn)品的差異(金相和體式顯微鏡)
    3． 電性能測(cè)試(參數(shù)測(cè)試、功能測(cè)試等)
    4． 非破壞性物理分析(X-Ray、X-SAM等)
    5． 開封及去層(機(jī)械開封、化學(xué)開封與離子蝕刻)
    6． 內(nèi)部形貌觀察(立體顯微鏡、金相顯微鏡、SEM、切片)
    7． 內(nèi)部電路分析(探針、FIB、電參數(shù)測(cè)試)
    8． 其他分析與實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證(SEM-EDS、TTIR、XPS等)

    9． 綜合分析與結(jié)論

    深圳市賽特檢測(cè)有限公司歡迎廣大客戶來電咨詢業(yè)務(wù)！


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