公司名稱：深圳市賽特檢測有限公司（STT）
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高溫試驗
STT檢測嚴格按照CNAS認可委的要求建設實驗室，并依據(jù)ISO/IEC17025：2006進行實驗室管理，遵循“公正、科學、準確、高效”的準則，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等國際、國內(nèi)標準，為企業(yè)提供專業(yè)檢測技術(shù)服務。
試驗的目的
確定軍民用設備、零部件在常溫條件下儲存和工作的儲存、使用的適應性及耐久性。確認材料高溫下的性能。
為能正確觀察與驗證產(chǎn)品在高溫環(huán)境下之熱效應，同時避免因濕度效應影響試驗結(jié)果，標準中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。
高溫條件下試件的失效模式
產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。
高溫環(huán)境對設備的主要影響有
1 填充物和密封條軟化或融化；
2 潤滑劑粘度降低，揮發(fā)加快，潤滑作用減??；
3 電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞；
4 加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開裂、化學反應等；
5 材料膨脹造成機械應力增大或磨損增大。
參考標準
IEC 60068-2-2:2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B：高溫》
GJB128A-97 《半導體分立器件試驗方法》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
GJB4.2-83《艦船電子設備環(huán)境試驗 高溫試驗》
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法108高溫壽命試驗
GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》
MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.1 高溫負荷試驗
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.2 高溫貯存試驗
GB/T13543-92《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
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