公司名稱：深圳市賽特檢測有限公司（STT）
聯(lián)系人：小吳
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公司地址：深圳市龍華區(qū)新湖路28號
XRD測試/X射線衍射儀
測試原理
X射線衍射分析（X-ray diffrb，簡稱XRD），是利用晶體形成的X射線衍射，對物質(zhì)進行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。
測試方法
表征材料的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力，進行物相分析,定性分析和半定量分析.只有圖譜的標(biāo)準(zhǔn)卡，無對應(yīng)的測試標(biāo)準(zhǔn)。檢出限：1at%
粉末樣品---在硅片試樣臺上制樣，放入儀器中，設(shè)定測試參數(shù)，開始測試。
塊狀樣品---切割成樣品臺大小，不超過2.5*2.5cm, 放入儀器中，設(shè)定測試參數(shù)，開始測試。
樣品要求
塊狀或粉末樣品10g以上
塊體、金屬及薄膜樣品：需加工出一平整的表面，尺寸約為20mm×10mm×2mm
應(yīng)用領(lǐng)域
物相分析，可以對物質(zhì)的組成及物相進行表征分析；
定性、定量分析，通過精修可對物質(zhì)的各組分進行精確的定量分析；
高溫原位分析，通過高溫原位可以研究溫度對物質(zhì)晶型轉(zhuǎn)變的影響。
適用標(biāo)準(zhǔn)
通用標(biāo)準(zhǔn)和非通用標(biāo)準(zhǔn)都適用。
STT檢測嚴格按照CNAS認可委的要求建設(shè)實驗室，并依據(jù)ISO/IEC17025：2006進行實驗室管理，遵循“公正、科學(xué)、準(zhǔn)確、高效”的準(zhǔn)則，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等國際、國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，為企業(yè)提供專業(yè)檢測技術(shù)服務(wù)。
深圳市賽特檢測有限公司歡迎廣大客戶來電咨詢業(yè)務(wù)！
