測(cè)試方法
兒童智力測(cè)試
1.1、聯(lián)合型瑞文測(cè)驗(yàn)（CRT-C3） 可以對(duì)7～16歲兒童進(jìn)行智商測(cè)試。
1.2、丹佛發(fā)展篩選量表（DDST） 適合0～6歲兒童的智能發(fā)育篩查。
1.3、繪人智能測(cè)驗(yàn)（MOD） 可以測(cè)定4～12歲兒童的智能成熟程度。
1.4、圖片詞匯測(cè)試（PPVT） 適合3歲6個(gè)月至9歲2個(gè)月兒童的智商測(cè)評(píng)。
1.5、中國(guó)兒心 中國(guó)0～6歲兒童神經(jīng)心理發(fā)育量表。
1.6、智能開(kāi)發(fā)指導(dǎo)方案 可以對(duì)1～84月的兒童進(jìn)行智能開(kāi)發(fā)指導(dǎo)。
測(cè)試時(shí)間
兒童智力測(cè)試
1.1、CRT-C3測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間為20～40分鐘，大部分兒童可在20分鐘之內(nèi)完成。
1.2、DDST測(cè)試時(shí)間一般在10～30分鐘；
1.3、MOD測(cè)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間為20分鐘，兒童多在10分鐘之內(nèi)完成；
1.4、PPVT根據(jù)被測(cè)試兒童的實(shí)際年齡而定，最長(zhǎng)為20分鐘；
