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產(chǎn)品簡介
FZ-2006型半導體粉末電阻率測試儀FZ2006
FZ-2006型半導體粉末電阻率測試儀FZ2006
產(chǎn)品價格:¥1
上架日期:2012-10-19 15:22:53
產(chǎn)地:上海
發(fā)貨地:上海
供應數(shù)量:不限
最少起訂:1臺
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詳細說明

    FZ-2006型半導體粉末電阻率測試儀FZ2006

    本儀器是為了適應當前迅速發(fā)展中的高分子半導電納米材料電阻率測試需要,參照有關國際標準設計的。 儀器的電流輸出為 10 µA - 100 mA ,電阻率測試范圍為 10 -2 - 10 5 Ω cm ,直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和穩(wěn)定性大大增強,更方便于用戶, 而且價格低廉、實惠。配置不同的測試架可以對半導體粉末、高分子納米粉末和固態(tài)金屬進行電阻、電阻率多用途的測量。

      適用于有機、無機半導體粉末材料(包括納米級)的電阻率測量, 也可以測量固體半導體材料,特別適合于太陽能多晶硅、硅粉質量的測量、分選和質量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有高精度加壓系統(tǒng), 高度測量的測試臺和儀器組成.


     

      儀器主要包括電氣箱和測試架兩部分,電氣測試部分由高精度直流數(shù)字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感器, 加壓機構和粉末標準容器組成。壓力機構采用手動操作、壓力平穩(wěn)。本儀器具有測量精度高,穩(wěn)定性好,重復性好,使用方便等特點, 并有自校功能。


     

      本儀器采用國際通用的電流-電壓降法即四端子測量法,可以消除電極與粉末接觸產(chǎn)生的接觸電阻誤差,還可以消除聯(lián)接系統(tǒng)所帶來的誤差, 克服了以往傳統(tǒng)的二端測量粉末電阻率儀器的弊病,真實、準確地測量出粉末樣品的電阻率,因此重復性好。


     

      本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質量的一種重要工具。

    主要技術指標:

    1. 測量范圍:
      • 電阻 10-4 - 105 Ω, 分辨率 10-4 Ω
      • 電阻率 10-4 - 105 Ω.cm,分辨率 10-4 Ω.cm
      測量誤差 ±(0.3% 讀數(shù) + 2 字)
    2. 測量電壓量程:20mV, 200mV, 2V,分辨率 10 µV
      測量精度: ±(0.3% 讀數(shù) + 2 字)
    3. 測量電流:0 - 100 mA 連續(xù)可調,
      電流量程:10 µA, 100 µA, 1 mA, 10 mA, 100mA
    4. 試樣粒度:40 目以下 - 60 目以上(標準篩網(wǎng))納米粉末
    5. 試樣容器:內腔Φ16.30 ± 0.1mm
    6. 試樣高度:16mm ± 0.5mm
      測量誤差:±0.1mm
    7. 取樣壓力:4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)
      壓力量程:0 - 100 kg 可調
    8. 顯示方式: 電阻、電阻率、壓力為 3 1/2 數(shù)字顯示,并自動顯示單位和小數(shù)點
    9. 電源:220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗
    10. 外形尺寸電氣箱:440mm×120mm×320mm
    11. 備有粉末測試架和固態(tài)標準樣品測試臺供選用
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