新聞:測針A-5003-0040雷尼紹優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品
一個電氣系統(tǒng)就象是管道系統(tǒng)一樣，電壓好比是液體壓力，電流好比是液體的流速，而電氣絕緣就好比是管壁。絕緣防止電子從導(dǎo)體發(fā)生漏泄――其作用的大小是用絕緣電阻表示的。有效的絕緣電阻系統(tǒng)具有高的電阻值，通常大于幾個兆歐。差的絕緣系統(tǒng)具有較低的絕緣電阻。為了發(fā)現(xiàn)管道系統(tǒng)中的滲漏，您需要對其加壓。由于在水壓時容易發(fā)現(xiàn)滲漏現(xiàn)象，所以您不能關(guān)閉自來水來檢查滲漏。您會限制可用的自來水，這樣就能夠在發(fā)現(xiàn)大的漏洞時不至于在周圍噴灑出太多的水。
LD-3K2日本柴田科學(xué)SIBATA數(shù)字粉塵計LD-3K2型在與作業(yè)環(huán)境等相關(guān)的浮游粒子狀物質(zhì)的測量中，使用了很多本公司的數(shù)字粉塵計，作為光散射方式的相對濃度計，與過濾捕集法相比，具有在短時間內(nèi)獲得數(shù)據(jù)等優(yōu)點。另一方面，相對于過濾收集方法，所獲得的相對濃度必須被校正為質(zhì)量濃度，以確定質(zhì)量濃度轉(zhuǎn)換系數(shù)。
通過輸入質(zhì)量濃度轉(zhuǎn)換系數(shù)(K值)，可以輕松地將計數(shù)值轉(zhuǎn)換為質(zhì)量濃度。另外，由于搭載了測量數(shù)據(jù)的記錄功能，所以也可以將記錄的粉塵濃度的數(shù)據(jù)取入電腦。
我們的功能比過去的數(shù)字粉塵計更好，但即使是那些習(xí)慣于過去的粉塵計也可以輕松使用。帶背光的易于觀看的液晶顯示。
標(biāo)準(zhǔn)附帶帶軟件的通信電纜。
記錄測量※的記錄周期可以設(shè)定為1秒~99分59秒。
通過預(yù)先輸入質(zhì)量濃度轉(zhuǎn)換系數(shù)(K值)，可以將測量值(CPM)轉(zhuǎn)換為質(zhì)量濃度(>/m3)并顯示。
即使關(guān)閉電源，散射板值和背景值(BG)也會被存儲。還可以使用散射板值和BG值數(shù)據(jù)自動校正粉塵測量值。
標(biāo)準(zhǔn)配備USB/RS-232C輸出、電壓輸出(0~1V)、無電壓脈沖輸出(開路收集器)3種數(shù)據(jù)輸出。
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Smartcollect采用“采集層-集成層-系統(tǒng)管理層”三層技術(shù)架構(gòu)，模塊化的設(shè)計易于通過具性價比的方式滿足所有用戶的實際需求。PM1-基礎(chǔ)版Smartcollect基礎(chǔ)版PM1，可通過簡單的方式獲取測試數(shù)據(jù)并將其存儲于開放的SQL數(shù)據(jù)庫中，具備基礎(chǔ)的數(shù)據(jù)分析、能耗監(jiān)控及報告生成功能，用戶界面精美，操作便捷。PM2-增強版Smartcollect增強版PM2，在PM1的基礎(chǔ)上增加了電能質(zhì)量分析功能，支持標(biāo)準(zhǔn)PQDIFF電能質(zhì)量文件，報告滿足EN516標(biāo)準(zhǔn)。
記錄測量
在LD-3K2中記錄測量數(shù)據(jù)的同時進(jìn)行測量。
設(shè)置測量開始日期、測量時間和周期。
數(shù)據(jù)以計數(shù)(CPM)值記錄，數(shù)據(jù)可以在屏幕上查看。
您可以將數(shù)據(jù)捕獲到PC，并以文本格式保存文件。
保存的文件可以用市售的電子表格軟件進(jìn)行加工。
·數(shù)據(jù)數(shù)：多63488分
·測量時間：zuida9999小時59分鐘
·記錄周期：1~5999秒(99分59秒)
·記錄周期為1秒時：可記錄約17.6小時
·記錄周期1分鐘時：可以進(jìn)行約44天的記錄
品種代碼.080000-41型式LD-3K2測量原理.光散射方法光源激光二極管(激光二極管)測量范圍：0.001-10.00毫克/米3測量靈敏度.1 CPM=0.001毫克/米3測量精度.±10%(相對于校準(zhǔn)粒子)顯示裝置(顯示裝置)圖形液晶顯示器
(帶背光，可調(diào)整對比度)顯示內(nèi)容：測量值(0-99999計數(shù))5位顯示測量時間當(dāng)前時間測量模式電池電量
K值(設(shè)定值0.1-9.9)條形圖(通過在測量過程中按下開關(guān)來顯示)測量模式：下降的計時器
通過內(nèi)置下降定時器設(shè)置測量時間并進(jìn)行測量。
6秒10秒30秒1分2分3分5分10分(接通電源的初始狀態(tài)是“1分鐘”的降時機模式)
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θjA是相對于環(huán)境溫度的結(jié)點熱阻抗，基于印刷電路板(攝氏度/W)的封裝，通常是在150℃的典型結(jié)溫(有些部件的結(jié)溫可能較低，需在數(shù)據(jù)表上確認(rèn))條件下計算出來的。所需θjA應(yīng)為如下方程式：≤(結(jié)溫-工作溫度)/Pd(等式2)。濾掉封裝中的器件，這樣θjA比滿足此初始結(jié)溫要求的上述計算結(jié)果要低。在結(jié)溫時操作會影響其可靠性。視電路板、氣流、環(huán)境和附近的其他熱源而定，留一定的余量始終是一個很好的設(shè)計實踐。
