阻抗分析儀IM3570
1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查
● 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查
● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量
● 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量
● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量
● 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量
● 可以用于無(wú)線充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)TS2400
● 搭配4ch掃描模塊機(jī)架，更能實(shí)現(xiàn)2MHz阻抗的4ch測(cè)量
主機(jī)不標(biāo)配治具。請(qǐng)根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。
選件
