日本JIMA RT CT-05B X射線微米分辨率測(cè)試卡
先jin的微米技術(shù)實(shí)現(xiàn)了具有 16 種不同寬度(3 至 50μm)的高精度線對(duì)分辨率測(cè)試卡。 當(dāng)今,微焦點(diǎn)成為主流的 X 射線光束尺寸,而分辨率測(cè)試卡則是調(diào)整、設(shè)置、檢查和維護(hù) X 射線系統(tǒng)的必要工具。
網(wǎng)站首頁(yè) 丨 關(guān)于我們 丨 聯(lián)系方式 丨 廣告合作 丨 付款方式 丨 使用幫助 丨 會(huì)員助手 丨 本站誠(chéng)聘 丨 代理加盟 丨 服務(wù)條款 丨 LOGO說(shuō)明
浙B2-20080178-1 互聯(lián)網(wǎng)藥品信息服務(wù)資格證書(shū):(浙)-非經(jīng)營(yíng)性-2012-0002 浙公網(wǎng)安備 33010802004772號(hào) ICP:浙B2-20080178-5 Copyright 2011 工控信息網(wǎng) All Rights Reserved 杭州濱興科技股份有限公司(股票代碼:839880) 熱線:0571-87774297 傳真:0571-87774298