低對比度細節(jié)檢測模體 TO-16
1.低對比度細節(jié)模體用于快速定量檢測影像成像質量，可以用于X射線放射影像系統(tǒng)，CR系統(tǒng)(TO16);
2.直徑250mm，厚度10mm;圓板中有12組不同細節(jié)點，每組中有12個不同直徑的細節(jié)點。144個細節(jié)點的對比度范圍從0.0014到0.924(在75kV和1.5mm銅濾過的條件下)。
TO-16低對比度細節(jié)檢測模體特點：
1、低對比度細節(jié)模體用于快速定量檢測影像成像質量，可以用于X射線放射影像系統(tǒng)和CR系統(tǒng)；
2、這些測試對象旨在快速定量圖像質量。結果可以繪制在閾值檢測指數曲線上。
TO-16低對比度細節(jié)檢測模體符合新WS標準
TO-16低對比度細節(jié)檢測模體技術參數：
直徑250mm，厚度10mm
圓板中有12組不同細節(jié)點，每組中有12個不同直徑的細節(jié)點，直徑從0.25m到11mm
144個細節(jié)點的對比度范圍從0.0014到0.924（在75kV和1.5mm銅濾過的條下）
144個細節(jié)（12×12對比細節(jié)）
尺寸范圍11mm至0.25mm
對比度范圍0.0014至0.924 （在75kV，1.5mm Cu過濾條件下）
