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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
聲掃顯微鏡
聲掃顯微鏡
產(chǎn)品價(jià)格:
上架日期:2024-06-29 19:52:04
產(chǎn)地:本地
發(fā)貨地:本地至全國(guó)
供應(yīng)數(shù)量:不限
最少起訂:1臺(tái)
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詳細(xì)說(shuō)明
    名稱:聲掃顯微鏡
    型號(hào):V-400E
    產(chǎn)地:德國(guó)
    應(yīng)用:晶圓面處分層缺陷;錫球、晶圓、或填膠中的開裂;晶圓的傾斜;各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…等)
    產(chǎn)品應(yīng)用:
    聲掃顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域:
    半導(dǎo)體電子行業(yè):半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;
    材料行業(yè):復(fù)合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導(dǎo)材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等;
    生物醫(yī)學(xué):活體細(xì)胞動(dòng)態(tài)研究、骨骼、血管的研究等
    在失效分析中的應(yīng)用:
    晶圓面處分層缺陷
    錫球、晶圓、或填膠中的開裂
    晶圓的傾斜
    各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…等)
    聲掃顯微鏡的在失效分析中的優(yōu)勢(shì):
    非破壞性、無(wú)損檢測(cè)材料或IC芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)
    可分層掃描、多層掃描
    實(shí)施、直觀的圖像及分析
    缺陷的測(cè)量及缺陷面積和數(shù)量統(tǒng)計(jì)
    可顯示材料內(nèi)部的三維圖像
    對(duì)人體是沒(méi)有傷害的
    可檢測(cè)各種缺陷(裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等)
    主要參數(shù):
    -該型號(hào)顯微鏡系統(tǒng)是實(shí)驗(yàn)室、研發(fā)和工業(yè)生產(chǎn)線主流機(jī)型。
    - 掃描速度高可達(dá):2000mm/s
    - 與其它品牌機(jī)型相比掃描效率高30%
    - 最大掃描范圍:400mm×400mm
    - 最小掃描范圍:200μm×200μm
    - 射頻最大帶寬:500MHz
    - 新型FCT防誤判探頭
    聲掃顯微鏡
    http://www.analysis-tech.net/SonList-1852446.html
    https://www.chem17.com/st331269/erlist_1852446.html
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