|
GE/KK帶可更換保護(hù)膜的接觸法探頭K1S探傷儀探頭
GE/KK接觸式探頭的選擇標(biāo)準(zhǔn)：K1S探傷儀探頭-主要特性：
如果沒(méi)有關(guān)于合適的探頭的確定的概念，那么下面可以推薦一些標(biāo)準(zhǔn)以便參考：
首先，要決定選用單探頭還是TR探頭，如果要探測(cè)近表面的缺陷，那TR探頭更合適些。
其次，就是根據(jù)預(yù)期的缺陷位置決定使用直探頭還是斜探頭。
由于大反射物的鏡面聲波反射現(xiàn)象，聲波束應(yīng)該垂直入射到反射物表面。當(dāng)頻率增加時(shí)，這一點(diǎn)必須要特別注意。
第三，就是考慮遠(yuǎn)場(chǎng)分辨率（回波寬度）。
最后，借助于表中給出的數(shù)值和給出的探頭類別選擇，可依據(jù)尺寸、頻率、波諧和工作量程等選擇最合適的探頭。
K1S探傷儀探頭-主要應(yīng)用領(lǐng)域
通常：用于容積形或者平等于表面的缺陷的探測(cè)和評(píng)估。可互換的抗磨損的保護(hù)膜可以使得探頭在粗糙或者彎曲的表面也達(dá)到盡可能好的耦合，并防止探頭受損。 B..SL：
探頭型號(hào)有：B0.5SL B1SL B2SL
用于測(cè)試這樣一類中等尺寸和大尺寸物體，它們由于具有長(zhǎng)的聲程（例如大的鍛件或球墨鑄鐵）而會(huì)導(dǎo)致大的聲波衰減。它們也適合用于測(cè)試具有強(qiáng)的聲波吸收特性的塑料（例如尼龍、特氟龍、聚丙烯），為增加靈敏度和分辨率，可以將保護(hù)膜去掉。
K..S，K..SM，K..SC和MK..S(粗晶探頭)：
探頭型號(hào)有：K0.5S、K1S、K0.5SM、K1SM、K1SC、K2SC、MK1S、MK2S、MK4S
用于測(cè)試這樣一類的中等尺寸和大尺寸物體，它們的材料會(huì)通過(guò)聲波的散射作用（例如灰口鑄鐵、非鐵重金屬材料或者塑料合成材料等制成的物體）而導(dǎo)致高的聲波衰減。
它們也可以用于測(cè)試材料的物理特性（例如建筑材料、巖芯和半導(dǎo)體材料的特性）。
B..S和MB..S：
探頭型號(hào)有：B1S、B2S、B4S、B5S、MB2S、MB4S、MB5S
這類探頭的公差分布范圍窄，對(duì)目前大多數(shù)的測(cè)試任務(wù)來(lái)說(shuō)（例如平板物、條狀物和方形輪廓物體的測(cè)試，以及窗口和螺釘、螺孔和外殼等的測(cè)試），可以達(dá)到最高的精度要求。對(duì)于由多種材料（例如所有的金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料）構(gòu)成的開(kāi)關(guān)簡(jiǎn)單的部件的測(cè)試也可以達(dá)到高精度要求。
  B..S和MB..S： 探頭型號(hào)有：B1S、B2S、B4S、B5S、MB2S、MB4S、MB5S 這類探頭的公差分布范圍窄，對(duì)目前大多數(shù)的測(cè)試任務(wù)來(lái)說(shuō)（例如平板物、條狀物和方形輪廓物體的測(cè)試，以及窗口和螺釘、螺孔和外殼等的測(cè)試），可以達(dá)到最高的精度要求。對(duì)于由多種材料（例如所有的金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料）構(gòu)成的開(kāi)關(guān)簡(jiǎn)單的部件的測(cè)試也可以達(dá)到高精度要求。 美國(guó)GE、德國(guó)KK公司 單晶直探頭型號(hào)如下：
探頭詳細(xì)信息請(qǐng)致電：0755-22325800,22325920咨詢了解！ |
